为提高太阳电池的光电转换效率，在制程上需要减少太阳光入射电池后被表面反射所造成的损失，本测试仪针对这一制程上的需求及太阳电池绒面特性，采用D8积分式光学结构，测量材料表面的反射率，对太阳电池制程中的工艺改进，提供有效的分析手段。

产品特点：

• 大功率的稳态太阳光模拟光源

• 配置应用在科研级的分光及探测系统

• 对比测量标准溯源至NIST

• 简洁美观的ZL设计

• 去除影响测试结果的多余结构，减少系统误差

• 优化传统的测试结构，提高测量的不确定度及重复性

• 粗大误差自动去除，线性误差、周期误差等的自动校正

• 可扩展增加温控、真空吸附等辅助结构

技术参数：

波长范围	350-1050nm(可扩展)
测试样品尺寸	≤156x156mm(可扩展)
测试模式	Mapping
系统重复性	1%
反射率范围	0-100%
单点测试时间	＜3s
校正时间	＜15s
杂散光	1x10-3
取样孔径	Φ10mm
校准板	标准白板（溯源NIM）