单波长色散X射线荧光光谱仪

超低硅含量分析

汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂，这些硅化合物在汽车发动机中无法完全燃烧，时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障，因此硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列。

而针对硅元素的检测仪器，主要有ICP和XRF两种方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，无需专业经验人员即可操作使用，MWD XRF更具有高灵敏度以及长期稳定性等特点，是你能够轻松应对超低硅含量分析的利器。

基于单波长激发-波长色散的XRF技术，极大降低X射线散射背景，同时使用大面积双曲面弯晶技术进行波长色散，高选择性的衍射硅元素的Kα射线，提高信号强度，同时降低背景干扰，使得XRF对微量轻元素检测成为可能。

zuidi检出限LLD：0.7ppm

测量范围：0.7ppm--3%

测量时间：60秒--600秒

重复性：Sn-1≤0.4ppm（2ppm），1ppm（10ppm），2.5ppm（50ppm）

产品特点：

   灵敏：高选择性检测硅元素，检测限达到0.7PPM，是针对硅元素非常灵敏的X射线荧光光谱仪

   稳定：XFS（X-Ray Fixed System）ZG技术，光路工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，保证了仪器的长期稳定性

   快速：单个样品准备时间小于10秒钟；单个样品分析时间最长600秒；开机10分钟内即可测试样品

   经济：单个样品消耗小于5元/样品，无溶剂等消耗

   方便：使用ESP：Easy Sample Prepare装置，使得样品杯与膜成型变得简单；长时间使用无硬件更换；无需经常校正标准曲线