| 仪器分类: | AFM |
Bruker公司的AFM具有多项技术，以其的性能广泛应用于科研和工业界各领域
Dimension FastScanTM 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓yue的仪器性能前提下，大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得高质量数据的时间,是世界上扫描速度快的原子力显微镜。
应用：
应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。
原理：
原子力显微镜的工作模式是以针jian与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。
特征：
u 高率
l 在空气或液体中成像速度是原来速度的 100 倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。
l 自动测量软件和高速扫描系统完mei结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。
u 高分辨率
l FastScan 精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度 20Hz 时仍能获得高质量的 TappingModeTM图像，扫描速度 6Hz 仍能获得高质量的ScanAsyst 图像。
l 低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
u 在任何样品上均有卓yue表现
l 闭环控制的 Icon和 FastScan扫描管极大地降低了 Z方向噪音，使它们 Z 方向的噪音水平分别低于 30pm 和 40 pm，具有极低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。
l Fast Scan 可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到 100 多纳米的样品高精度无失真扫描
设备咨询电话：182 6326 2536（微信同号）；
