-
技术资料
-
GB/T 21650.1-2008 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第1部分:压汞法
发布:贝士德仪器科技(北京)有限公司浏览次数:2760本部分描述了根据 Ritter 和 Drake 发展的压汞法来评价固体的孔径分布和孔中的比表面。它是一种可比较的方法。由于汞污染,本方法通常是破坏性的。测得的渗透到孔或空隙中汞的体积是与孔径相关的静压力的函数。
2018-12-05上一篇:GB/T 21650.3-2011 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第3部分:气体吸附法分析微孔
下一篇:SYT 6154-1995 岩石比表面和孔径分布测定 静态氮吸附容量法相关仪器 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
-
仪网通银牌会员 第 8 年
贝士德仪器科技(北京)有限公司
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
-
仪企号贝士德仪器科技(北京)有限公司
-
友情链接
-
手机版开启全新的世界m.yiqi.com/zt5755/