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深圳市蓝星宇电子科技有限公司
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ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10价格：面议- 品牌：德国蔡司
- 型号：EVO 10
- 产地：欧洲 德国
ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10，具备自动化工作流程的高清晰扫描电镜
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- 品牌：德国neaspec
- 型号：nano-FTIR
- 产地：欧洲 德国
德国neaspec 纳米傅里叶红外光谱仪nano-FTIR，具有10nm空间分辨率的纳米级红外光谱仪，nano-FTIR 光谱与标准FTIR光谱高度吻合 。
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德Bruker光学轮廓仪ContourGT价格：面议- 品牌：德国布鲁克
- 型号：ContourGT
- 产地：欧洲 德国
德Bruker光学轮廓仪ContoruGT-表面量测系统-供生产QC/QA及研发研用的非接解触型光学轮廓仪,ContourGT 系列产品中包含有旗靓级ContourGT-X, 进阶级ContourGT...
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- 品牌：德国YXLON
- 型号：Y.Cougar SMT， Y.Cheetah
- 产地：欧洲 德国
德国YXLON 高分辨率Ｘ射线检测设备 Y.Cougar SMT 平板探测器（标配） Y.Cheetah 高速平板探测器（标配）
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- 品牌：德国Raith
- 型号：Y.Cougar SMT，Y.Cheetah
- 产地：欧洲 德国
德国YXLON 高分辨率Ｘ射线检测设备，Y.Cougar SMT 平板探测器（标配） Y.Cheetah 高速平板探测器（标配）
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- 品牌：瑞士nanosurf
- 型号：CoreAFM
- 产地：欧洲 瑞士
瑞士 Nanosurf CoreAFM 原子力显微镜，CoreAFM非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现zui多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, CoreAFM非常合理的实现...
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- 品牌：美国泰克
- 型号：4200A-SCS
- 产地：美洲 美国
美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪 4200A-SCS ，加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。
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Bruker FTIR 傅氏转换红外光谱价格：面议- 品牌：德国布鲁克
- 型号： FTIR 傅氏转换红外光谱
- 产地：欧洲 德国
Bruker FTIR 傅氏转换红外光谱分析系统-利用红外线光谱经傅利叶转换进而分析杂质浓度的光谱分析仪器。
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Bruker FTIR 傅氏转换红外光谱分析系统价格：面议- 品牌：德国布鲁克
- 型号：FTIR 傅氏转换红外光谱分析系统
- 产地：欧洲 德国
Bruker FTIR 傅氏转换红外光谱分析系统-利用红外线光谱经傅利叶转换进而分析杂质浓度的光谱分析仪器。
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- 品牌：德国蔡司
- 型号：SIGMA 300
- 产地：欧洲 德国
德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300 ，ZLGemini镜筒，超高的束流稳定性，超高的束流稳定性，zhuo越的低电压性能，In Lens 探测器，磁性材料高分辨观察，ding级X射线分析...
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- 品牌：德国蔡司
- 型号：Crossbeam 350，Crossbeam 550
- 产地：欧洲 德国
德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM，Crossbeam 350，Crossbeam 550，标准样品仓有18个扩展接口，加大样品仓有22个扩展接口。
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少子寿命测试仪MDPspot价格：面议- 品牌：德国Sentech
- 型号：MDPspot
- 产地：欧洲 德国
MDPspot灵活的自动扫描系统 具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。
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灵活的自动扫描系统MDPmap价格：面议- 品牌：德国Sentech
- 型号：MDPmap
- 产地：欧洲 德国
灵活的自动扫描系统MDPmap 离线工具MDPmap是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度，从非常短的脉冲(100ns...
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MDPpro激动扫描系统价格：面议- 品牌：德国Sentech
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- 产地：欧洲 德国
MDPpro激动扫描系统，用于对电特性进行分析，在四分钟的测量时间内，对1毫米分辨率，500毫米砖砖(或晶片)自动扫描。进行完全非接触测量。
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- 品牌：德国Sentech
- 型号：MDPinlinescan
- 产地：欧洲 德国
MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪 优势 。在µ-PCD或稳态激发条件下测量少子寿命和电阻率线扫描是该仪器设计的ZD。 。集成OEM单元的生产，用于多晶或单晶硅晶片在不同...
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MDPinline ingot 光伏测量仪器价格：面议- 品牌：德国Sentech
- 型号：MDPinline ingot
- 产地：欧洲 德国
MDPinline ingot 光伏测量仪器，快速自动扫描系统
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