YF19-1 型 荧光量子效率测量系统 核心参数
光谱范围: | 350-1100nm | 光源: | 350-980nm可选 |
详细介绍
YF19-1量子效率测量系统是用于评价发光材料性能,测试光致发光量子产率的测试仪器。 其内部模块化的探测器组件可根据用户需要任意配置,覆盖紫外-近红外的范围,具有高灵敏度的背照式CCD探测器,从而有效解决上转换荧光量子产率的难以测试的问题。
应用领域
量子点发光材料 钙钛矿发光材料 有机发光材料
AIE材料 稀土发光材料 荧光粉
荧光染料 上转换材料
产品优势
体积小巧:便于灵活使用及运输
原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
结构稳定:设备无需频繁校准
技术参数
名称 | 量子效率测量系统 |
探测器 | 薄型背照式面阵CCD |
波长范围 | 350-1100nm |
信噪比(全信号) | 1000:1 |
像素 | 1024 |
波长分辨率 | <2.5nm |
A/D转换位数 | 18位 |
CCD制冷 | 制冷,温度可低至-20℃ |
激发光源波长 | 350-980nm可选 |
积分球尺寸 | 3.3英寸 |
积分球材料 | Spectralon |
样品 | 液体/固体 |
操作系统/接口 | Windows系统(XP/7/8/10) |
测量项目 | 光致发光量子效率 量子效率和激发波长的关系 光致发光光谱 辐射通量,光通量 色彩测定(色度、色温、显色指数等) |
产品优势
体积小巧:便于灵活使用及运输
原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
结构稳定:设备无需频繁校准
原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
结构稳定:设备无需频繁校准
技术文档
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广州容帆科技有限公司
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