离子精修仪-TEM 制样

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价格：面议

Technoorg Linda 的低能氩离子枪(GIB)适用于表面減减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧化物表面层。当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时基作用尤为明显。有了集成离子枪，就可...

价格：€ 40

Gentle Mill 离子精修仪产品专为Z终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。 Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 ...

离子精修仪-TEM 制样解决方案

设备更新｜扫描电镜 SEM & 透射电镜 TEM 离子束制样设备
设备更新｜扫描电镜 SEM & 透射电镜 TEM 离子束制样设备2024 年 3 月 1 日，《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》经...
使用低能离子精修制备高质量的锂离子导体固态电解质透射电镜样品
引言使用 FIB 切削获得超薄样片(lamella)，是一种常见的块体材料 TEM 制样方法。然而，镓离子束辐照损伤所带来的非晶层却像一片难以驱散的迷雾，阻碍着人们获得更高质量的 TEM 照片，进而也...
FIB制样产生的非晶层如何修复？
FIB制样产生的非晶层如何修复？前面我们介绍了FIB制样是透射电镜中常用的制样方法，但是使用离子束时可能会引起一些意想不到的样品损伤，改变了样品表面的特性，产生的非晶层或损伤层在使用 FI...
TEM 制样方法中：FIB制样的优势和缺陷
TEM 制样方法中：FIB制样的优势和缺陷01 TEM 制样方法概述透射电子显微镜能够精细地观察样品的结构，甚至可以观察到仅由一列原子构成的结构。其分辨率比光学显微镜...

离子精修仪-TEM 制样技术资料

GIB 精修离子束系统
Technoorg Linda 的低能氩离子枪（GIB）适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧化物表面层。当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时，其作用尤为明显。有了集成...

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