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FR-Scanner自动化高速薄膜厚度测量仪价格:面议
- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-Scanner
- 产地:希腊
显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此,在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。
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FR-Mic:全自动带显微镜多点测量膜厚仪价格:面议
- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-Mic
- 产地:希腊
硬化涂层膜厚仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。
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FR-Mic全自动带显微镜多点测量价格:面议
- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-Mic
- 产地:希腊
FR-Mic 多层膜厚度测试仪是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,可以将光斑缩小到几个微米,进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征。
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FR-Ultra晶圆厚度测量系统价格:面议
- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-Ultra
- 产地:希腊
FR-Ultra是一种紧凑型设备,专门用于快速、准确和无损测量半导体材料的厚/超厚层及透明层。
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- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
- 产地:希腊
显示器薄膜测量仪*的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此,在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。
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FR-InLine-在线薄膜厚度测量仪价格:面议
- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-InLine
- 产地:希腊
FR-InLine 是一款模块化可扩展的在线薄膜厚度测量仪(膜厚仪),可进行在线非接触测量 3nm-1mm 厚度范围内的涂层。
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- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-pRo
- 产地:希腊
Thetametrisis膜厚测量仪FR-pRo是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层。
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FR-Scanner-AIO-Mic-XY300价格:面议
- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-Scanner-AIO-Mic-XY300
- 产地:希腊
FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自动薄膜厚度测绘系统,用于全自动图案化晶圆上的单层和多层涂层厚度测量。电动X-Y载物台提供适用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程,通...
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FR-uProbe-LC光学显微镜适配器价格:面议
- 品牌: 希腊ThetaMetrisis
- 型号:FR-uProbe-LC
- 产地:希腊
FR-uProbe-LC: 可测量小至几微米的光斑尺寸应用,例如微图案表面、高粗糙度表面的样品等等只需单击鼠标即可在 Vis/NIR波长范围中测量微小区域薄膜厚度、光学常数、反射率、透射率和吸光度。
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- 品牌分类
- EVG光刻机
- EVG键合机
- CMP晶圆减薄抛光
- 晶圆关键尺寸测量
- EVG纳米压印机
- 膜厚仪
- 防震台
- 晶圆厚度测量
- 应力测量
- 3D形貌仪/白光干涉轮廓仪
- 光学镜头对准系统(定心仪)
- 片电阻测量仪
- 晶圆缺陷检测
- 等离子去胶
- 椭偏仪
- 台阶仪
- 4D动态激光干涉仪
- 光学粗糙度测试仪
- 电容式位移传感器
- 磁性材料检测设备
- 全自动测量机台
- (奥地利)EVG
- (美国)美国Filmetrics
- (美国)美国FSM
- (美国)美国Herzan
- (美国)美国MicroSense
- (镇江)镇江超纳
- (希腊)希腊ThetaMetrisis
- (德国)Opto Alignment
- (德国)德国Stefan Mayer
- (美国)美国德康
- (日本)列真株式会社
- (浦东新区)其它品牌
- (珠海)宝丰堂
- (美国)美国Film Sense
- (日本)日本小坂
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仪企号
岱美仪器技术服务(上海)有限公司
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