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硅片厚度测量仪

 
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FR-Ultra NIR N3 晶圆厚度测量系统
  • 品牌: 希腊ThetaMetrisis
  • 型号:FR-Ultra NIR N3
  • 产地:希腊
  • FR-Ultra 是一款专用于精确测量半导体以及介电材料超厚层的专用设备。 藉由先进的光学器件,FR-Ultra 可以测量光滑或粗糙的薄膜以及较厚的基材。

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