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半自动晶圆厚度测量

 
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FSM413红外激光测厚仪
FSM413红外激光测厚仪
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  • 品牌: 希腊ThetaMetrisis
  • 型号:FSM413
  • 产地:希腊
  • FSM413红外激光测厚仪主要产品包括:光学测量设备:三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及漏电流测量设备、金属污染分析、...

FSM128 FSM413薄膜应力及基底翘曲测试设备
  • 品牌: 美国FSM
  • 型号:FSM128 FSM413
  • 产地:美国
  • 美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,总部位于圣何塞,多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备,客户遍布全世界, 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓...

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