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CI8化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置价格：面议- 品牌： 列真株式会社
- 型号：CI8
- 产地：日本
LODAS™ – CI8是列真株式会社推出的一款化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置。
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- 品牌： 列真株式会社
- 型号：LODAS™ – AI50/100
- 产地：日本
LODAS™ – AI50/100是列真株式会社推出的一款Photomask Blanks缺陷检查装置。
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- 品牌： 列真株式会社
- 型号：LODAS™ – BI8
- 产地：日本
LODAS™ – BI8是列真株式会社推出的一款Photomask Blanks缺陷检查装置。
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- 品牌： 列真株式会社
- 型号：LODAS™ – BI12
- 产地：日本
LODAS™ – BI12是列真株式会社推出的一款GlassWafe缺陷检查装置。
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LODAS™ – LI价格：面议- 品牌： 列真株式会社
- 型号：LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷检查
- 产地：日本
LODAS™ – LI系列是列真株式会社推出的一款FPD Photomask缺陷检查装置。
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- 品牌分类
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