详细介绍
X荧光硅铝分析仪
X荧光硅铝分析仪 性能特点:
1 、微机化集成为一体,结构紧凑,外形美观。
2、大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。
3、分析时间短,1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。
4、仪器检测时不破坏样品,样品可重复使用。
5、不用任何化学试剂、无三废排放,不含放射源、低耗电,符合环保节能要求。
6、数据存储量大,含量结果、仪器自检数据都可查询,避免了打印耗材。
7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。
8、可与配料系统联网,实现自动控制。
X荧光硅铝分析仪 技术指标:
1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%~100%
2、分析精度:标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%~15%,通过标定工作曲线选定。
4、分析时间: n*60秒(n为1~5自然数)。
5、使用条件: 供电AC200V~240V;环境温度0~40℃;相对湿度<85%(30℃)。
6、整机功耗: <30W
7、整机尺寸:468mm*368mm*136mm
8、整机重量:13.8kg
产品优势
X荧光硅铝分析仪 性能特点: 1 、微机化集成为一体,结构紧凑,外形美观。 2、大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。 3、分析时间短,1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。
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仪企号
鹤壁市创新仪器仪表有限公司
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