详细介绍
高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片的测试解决方案
Introspect Tx/Rx LVDS测试解决方案（支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate）
如下是关于Introspect T-CON及LVDS测试解决方案的产品资料及主要功能介绍，目前Introspect的产品已经广泛应用在很多DDIC及芯片的厂商用于T-CON多通道等产品测试验证上。
详细还请参考如下及附件资料，如有任何疑问，欢迎再随时与我们保持联系.
Introspect SV1C/SV3C系列产品五大亮点:
1.每个通道具备独立注入抖动能力
2.每个通道具备调整Skew能力
3.可调整共模电压幅值(VCOM)
4.可编程客制化码型
5. 支持多通道测试，最大通道数可达32
6.可完全取代泰克DTG 5334 （已停产）,在目前各大DDIC和SoC厂商中有广泛使用
产品优势
目前Introspect的产品已经广泛应用在很多DDIC及芯片的厂商用于T-CON多通道等产品测试验证上。
高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片的测试解决方案
Introspect Tx/Rx LVDS测试解决方案（支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate）
高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片的测试解决方案
Introspect Tx/Rx LVDS测试解决方案（支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate）
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