高度测量显微镜 核心参数
| Z轴测量范围: | 150mm | 分辨率: | 0.001mm |
| 水平测量范围: | 300x320mm | 放大倍数: | 1000X |
详细介绍
• 卓越的光学技术实现对极细微样品的逼真成像。
• 先进的测量技术实现对样品的准确测量。
• 自动聚焦和聚焦导航系统使测量更简单、更精确。
• 全面的可追溯系统可以提供可靠和可信赖的测量。
XYZ 长宽高的试试测量，线弧高度，芯片偏移，球径球高测量。
产品优势
• zhuo越的光学技术实现对极细微样品的逼真成像。
• 先进的测量技术实现对样品的准确测量。
• 自动聚焦和聚焦导航系统使测量更简单、更精确。
• 全面的可追溯系统可以提供可靠和可信赖的测量。
• 先进的测量技术实现对样品的准确测量。
• 自动聚焦和聚焦导航系统使测量更简单、更精确。
• 全面的可追溯系统可以提供可靠和可信赖的测量。
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苏州纳光电子科技有限公司
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