日本三丰MITUTOYO影像测量仪QV 图像测量仪

自动跟踪聚焦 ( TAF )

随测量物高度的变化，可连续聚焦的功能。

通过自动追踪表面的凹凸起伏、翘曲 ( Z 轴高低方向 ) ，提高了测量效率。

并且，还可以减少手动测量时繁琐的对焦，减轻了测量操作人员的负担。

高性能多种自动对焦

QV 系列标配了高性能影像对焦，并通过影像对焦保证了精度。丰富的对焦工具可根据不同

的表面性状及测量位置选择最适合的焦点，可实现高信赖性的高度测量。高速的自动对焦速

度，实现了提高了综合的测量效率。

图案对焦

进行图案投影的图案聚焦功能及时在

对比很低的透明物体或镜面上也能实

现清晰聚焦，可有效测量印刷电路板

防护层或聚酰亚胺表面的高度。

边缘对焦

影像聚焦 ( 边缘聚焦 ) 功能能够在边缘

位置准确聚焦。

表面对焦

表面聚焦系统可用于测量各种区域尺

寸的高度，其优点在于，即使在树脂

成型表面或机械加工表面等非常粗糙

处，也不影响聚焦效果。