多功能
C+L、O波段(可选)
可扩展扫频光源
平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器
光学测量分析二次开发
可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量;
可升级扫描范围;
可升级高功率版本(2mW/5mW)。
详细介绍
产品特点
主要应用
参数
主要参数 | ||
损耗(IL) | ||
测量长度 1 | 100 | m |
波段 2 | 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 | nm |
波长分辨率 | 1.6 | pm |
波长精度 | ±1.0 | pm |
动态范围 | 60 | dB |
插损精度 | ±0.1 | dB |
分辨率 | ±0.05 | dB |
扫频光源 | ||
功率 3 | 1 | mW |
波长 2 | 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 | nm |
波长精度 | 5 | pm |
扫描速度 | 10 ~ 100 | nm/s |
边摸抑制比 | 60 | dBc |
消光比 | 15 | dB |
硬件 | ||
主机功率 | 60 | W |
通讯接口 | USB | - |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | D 330 * W350 * H160 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储藏温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
工作温度 | 10 ~ 40 | ℃ |
工作湿度 | 10 ~ 90 | %RH |
备注:
产品优势
SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应,进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量,系统内置扫频光源,可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
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