详细介绍
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU)的第三代半导体功率器件静态参数测试方案,为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段,实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。如果您对半导体电学参数测试设备iv+cv测试分析仪感兴趣,欢迎随时联系我们!
产品特点:
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力;
测量精度高,全量程下可达0.03%精度;
内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;
自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;
提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;
免费提供上位机软件及SCPI指令集;
典型应用:
纳米、柔性等材料特性分析;
二极管;
MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;
第三代半导体材料/器件;
有机OFET器件;
LED、OLED、光电器件;
半导体电阻式等传感器;
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;
电阻率系数和霍尔效应测量;
太阳能电池;
非易失性存储设备;
失效分析;
产品优势
SPA-6100半导体电学参数测试设备iv+cv测试分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。
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