详细介绍
半导体曲线图示仪iv+cv测试仪优势:
IV、CV一键测;一体机,支持远程指令控制;支持三同轴接探针台
能够覆盖从材料、晶圆、器件到模块的测试
产品特点:
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力;
测量精度高,全量程下可达0.03%精度;
内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;
自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;
提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;
免费提供上位机软件及SCPI指令集;
典型配置
典型应用:
纳米、柔性等材料特性分析;
二极管;
MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;
第三代半导体材料/器件;
有机OFET器件;
LED、OLED、光电器件;
半导体电阻式等传感器;
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;
电阻率系数和霍尔效应测量;
太阳能电池;
非易失性存储设备;
失效分析;
产品优势
半导体曲线图示仪iv+cv测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。
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