德国布鲁克/Bruker

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发

这是一款基于Windows的软件，便于安装在您的笔记本电脑上，提供多样化的选择，用于监控和记载工艺过程。

CT-010喷碳头虽然小巧紧凑，但是它具备所需的技术特性，能够进行可重复蒸碳和后续的表面修饰。

尽管用于CCU-010 LV和CCU-010 HV紧凑式镀膜机的SP-010溅射头的形状小巧，它仍然具备在真空中进行高质量溅射镀膜所需的特性。

CCU-010 镀膜机提供两种款型。CCU- 010 LV低真空镀膜机，CCU- 010 HV 高真空镀膜机。采用模块化概念，便于以后把低真空镀膜机转变为高真空镀膜机。

布鲁克（BRUKER）探针为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探

CUBE（立方）是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器，借助外部电阻器，也可以以连续复位模式运行。 此电路适用于在出峰时间较短的情况下提供降噪性能，实现了低死时间和高计数率测量，并具...

通用结构的数字脉冲处理器系统适用于多种探测器，设计用于X射线和伽马射线光谱,如与X射线探测器组合使用（如硅漂移探测器、高纯锗半导体探测器），用于分析XRF,XAS(EXAFS,XANES)等射线。

电学特性FEOL Electrical CharacterizationIn IC device manufacturing electrical characteristics of layers

漆膜附着力测试Film adhesion testing of thin films and stacks on substrates for material evaluation3DIC TSV

非接触式厚度测量，可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的薄晶圆，也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆，可应用于堆叠芯片和微机电系统。

硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth,  botto

· 高分辨率成像和定量的材料性能成像。 · 提供多模块功能的MultiMode · 发表论文AFM · 峰值力模式实现

同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜（SPM）具有很高的分辨率，实用性强，从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置，仪器成本合理，适...

Dimension FastScan 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®分辨率的仪器性能前提下，大限度的成像速度。这项技术，解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技...

随着纳米科技和薄膜技术的发展（太阳能电池，cvd、pvd、dlc、MEMS等），纳米尺度的机械性能测试趋向标准化。纳米机械性能测试在传统测试基础上有了很大改进，通过设计高宽径比的探针测试更深更窄的沟槽...