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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:Frontier Semiconductor-02
- 产地:美国
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择
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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:Frontier Semiconductor-01
- 产地:美国
使用应力控制,避免薄膜分层,形成凹凸状。 光学设计减少图形衬底对激光的干涉。 在TSV, 半导体以及LED工艺上控制基底弯度。 在平板显示行业,控制玻璃的平整度
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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:FSM 413
- 产地:美国
红外干涉测量设备适用于可让红外线通过的材料
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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:FSM360
- 产地:美国
芯片会产生另外一个光束(Raman信号),Raman信号的频率有别于原来的光源。 从Raman信号频率我们可以测出样本的应力大小。
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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:Line Card
- 产地:美国
Line Card 3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪FEOL Electrica
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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:FSM 413 EC
- 产地:美国
非接触式厚度测量,可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的晶圆,也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆,可应用于堆叠芯片和微机电系统。
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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:FSM 500TC
- 产地:美国
FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性,主要应用于半导体,三-五族,太阳能,LED,数据存储,微机电和面板产业。这些特性有助于检测到诸...
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- 品牌: 美国Frontier Semiconductor
- 型号:FSM 128
- 产地:美国
FSM率先推出基于商业化应用的激光扫描光学杠杆(Optilever)技术,主要应用于薄膜应力和晶圆弯曲测量。该设备频繁使用在分析解决诸如薄膜裂纹,分层,突起和空隙是如何形成的问题。FSM128系列设备...
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美国Frontier Semiconductor
Frontier Semiconductor,Inc (FSM)为半导体,LED,太阳能,平板显示,数据存储和MEMS应用提供一系列先进的产品测量和解决方案。 FSM在应力测量,薄膜粘附力测试,晶片形状测量和电性表徵方面有超过25年的经验。 最新的产品具独特的技术,以满足3DIC製造的计量需求。