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铂悦仪器（上海）有限公司
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硅片表面形貌/晶园测量

 
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德国布鲁克 晶圆厚度测量系统FSM 413 EC
德国布鲁克 晶圆厚度测量系统FSM 413 EC
价格：面议
  • 品牌： 德国布鲁克
  • 型号：FSM 413 EC
  • 产地：德国

    • 非接触式厚度测量，可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的薄晶圆，也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆，可应用于堆叠芯片和微机电系统。

德国布鲁克 硅片表面形貌测量VIT
德国布鲁克 硅片表面形貌测量VIT
价格：面议
  • 品牌： 德国布鲁克
  • 型号：VIT
  • 产地：德国

    • 硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth,  botto

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