高低温

评估系统绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试...

zonglen 半导体芯片HAST测试设备 试验箱，是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。半导体芯片HAST，HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、...

zonglen三温液冷机ZL-20A替代ATS DEX-20A，Chiller ZL-20A是一台对循环液进行温度控制并输出冷热液的装置。具有温度稳定性高、温度范围广、故障自诊断、外部通信等丰富功能。...

RF射频芯片的HAST测试 试验箱，zonglen HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与...

（价格仅供参考） 高低温晶圆盘三温Chuck，晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试，去BUG或IC故障分析，具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性。

zonglen HAST偏压老化测试系统，B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯 片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速 寿命信赖性试验，使...

BHAST绝缘电阻劣化离子迁移CAF评估系统,绝缘电阻劣化离子迁移CAF评估系统， 评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1...

高加速老化试验测试 HAST测试机，HAST试验箱，即高加速寿命试验箱，是一种环境应力测试设备。它通过模拟产品在长时间使用过程中可能遇到的各种环境条件和应力，如极低的温度、振动和电压等，以测试产品的可...

绝缘电阻劣化离子迁移CAF评估系统， 评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生...

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导通电阻评估系统搭配 HAST试验箱，导通电阻测试系统可与zonglen HAST非饱和高压加速老化试验箱配合使用，主要用于产品导通电阻性能验证。更好的保证您PCB检测的精度和可靠性。

高低温冲击气流仪ThermoTST TS-780，温度变化速率快，-55℃至+125℃之间转换约10秒。

桌面型高低温冲击设备气流仪zonglen，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有...

CAF测试系统 HAST高加速寿命试验箱,CAF测试系统 HAST高加速寿命试验箱，CAF测试也叫离子迁移测试，CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包装材料、食品接...

超低温气体制冷机GC120，ThermoTST GC120气体制冷机采用 混合制冷剂自动制冷层叠技术，以提 供 超低温而不需要液氮的成本、风 险或不便。可以将干燥的气体冷却到 -90 ℃到-125 ℃...