美国Hinds/Hinds Instruments

弱吸收的意义在高功率激光系统中，光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生—系列问题: 1、如下图所示的焦距发生变化 ⒉、波前畸变 3、退偏 4、膜层吸收是影响薄膜损伤阈值...

EKKOTM圆二色性微片测量仪用于光学活性化合物的高通量筛选。 EKKOTM圆二色性微片测量仪使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到试管中进行筛选，也不需要在分析过程中清洗...

Hinds Instruments 公司的2-MGEM椭圆仪是—种用于测量米勒矩阵样本的正常入射偏振反射显微镜。它可以用来评估RTISO核燃料热解碳层的光学各向异性(OPTAF)。该系统是根绝Dr.G...

偏振测量长期以来一直是Hinds仪器的专业技术，在新的交钥匙双PEM研究中， STOKES偏振计系统是为测量光的斯托克斯参量提供高灵敏度的下一步，该系统在光学元件表征、光学系统光束输出特性、天文学、...

使用Hinds仪器公司PEM技术，该系统为一个完整的Mueller偏振计提供了高水平的灵敏度。关键词:150XT,穆勒椭偏仪，Hinds.Hinds Instruments,穆勒矩阵测量系统，穆勒矩阵...

Exicor双折射微型成像仪为学术界和工业界的研究人员提供了评估双折射的能力。无论是生物材料还是工业材料。微型成像仪具有0.7um的数字分辨率，0.1nm的检测限（噪声水平）和3500nm以上的测量范...

Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。 设计减去了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换。氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。调制后...

Hinds仪器的’ExicorR双折射测量系统PV-Si是工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光和Ge雪崩光电二极管探测器，实现了光伏和半导体工业中硅材料的高精度双折射...

LCD材料的超低阶双折射测量用于LCD的Exicor GEN系列 在与众多光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统，用于测量大面积光学材料，如用于LCD(高...

Hinds仪器的Exicor双折射测量系统型号150AT是ExicorR双折射测量系统系列产品的工作平台。该系统具有多功能性，在生产车间和研发实验室环境中均可胜任。该模型广泛用于研究和工业中测量组件;...

Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds Insrtuments 光弹调制器（PEM）基于...

Hinds 仪器的Exicor双折射测量系统型号150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有足够的多功能性，在生产车间和研发实验室环境中均可胜任。 该模型广泛用于研究和工业...