仪器分类: | AFM |
产品介绍:
Multimode 8-HR
MultiMode® 测试平台作为历史悠久的经典机型,由于其卓 越的分辨率与性能享誉至今。Multimode 8-HR 原子力显微镜通过高速PeakForce Tapping ®、增强的 PeakForce QNM®、全新的 FASTForce Volume和独 家布鲁克探针技术,在成像速度、分辨率和纳米机械性能方面有了进一步的改进,使得综合性能显著提升。
特征
NanoScope 开放工具箱
MultiMode 8-HR 提供了多种用于监控信号、修改实时操作和实现自定义离线分析的方式。标准 NanoScope® 可直接打开 MATLAB数据并导出ASCII 码。您可以使用Virtual SAM 监控内部信号并对输入信号进行修改,或选配 SAM lll 扩展您的功能。还可以通过选配纳米刻蚀和修改COM界面来控制AFM的功能。您可以利用 NanoScope 开放访问功能将实验扩展到标准 AFM 模式之外,以开发独特的模式来获取全新的数据。
用于信号输入和输出的 NanoScope 控制器。
PeakForce-HR 模块
使用PeakForce-HR 对聚合物成像。扫描范围 1 μm ,扫描速度 5 Hz。 样品由北卡罗来纳大学的 S. Sheiko提供。
MultiMode 8-HR 旨在充分利用峰值力轻敲技术,在空气成像速度加快了6倍,而不会降低图像质量。
了解有关峰值力轻敲的更多信息先进的环境控制
Multimode 8-HR 具有对样品加热和冷却功能。低温配件可在 -35°C 至 100°C 的空气或液体中加热和冷却。高温配件可加热至 250°C,通常用于研究聚合物相变。变温功能的独特之处在于,允许在变温过程中通入保护气,防止样品氧化和尖 端加热,还可以同时加热探针,防止探针被污染。环境控制附件既可与加热/冷却配件集成在一起,也可作为单独的环境室选配。
下载环境控制数据表
三聚物的 PeakForce-HR 图像。从室温(左)开始,样品在加热至 60°C(中间)时熔化,然后在冷却至 55°C(右)时重新结晶。扫描范围 3 μm,以 10 Hz 成像。
AFM 模式
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式,布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM测试模式,允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独 创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式,已被应用到多种测量模式中,能同时提供形貌、电学和力学性能数据。
了解有关 AFM 模式的更多功能
Multimode 8-HR 数据库
聚(3-六基乙基苯)(P3HT)有机导电纳米线的PF TUNA电流图,电压为3V。扫描范围为 3 μm ,电流从 0 到 80 pA 范围内变化。
五氧化二氮薄膜的轻敲图像,扫描范围为 5 μm。薄膜用作锂微电池中的正极,并在原始状态(左)、第 一次放电后(中间)和随后充电后(右)进行测试。充电/放电循环不可逆地改变了薄膜结构。图片由法国波城大学的B.Fleutot提供。
用PeakForce HR表征间同立构聚丙烯 (sPP) 和聚乙烯氧化物 (PEO) 共混物。扫描范围3um,扫描速度5Hz。
PeakForce QNM 图像揭示了空气中聚乙烯晶体的分子缺陷。从单个分子的形貌(A) 以及粘附力 (B) 和刚度 (C) 图可以看出,缺陷位点刚度显著降低。图像大小 10 nm。
此模量图揭示了 ULDPE 连接层与截面包装材料的 PS/LDPE 密封层之间的微妙过渡。扫描范围为 3 μm。
通过 PeakForce TUNA 获得的碳纳米管形貌 (A) 和电流 (B) 图。图像大小 1 μm。
使用峰值力轻敲得到云母表面原子级分辨率的形貌和粘附力。
使用PF QNM 得到的聚二基硅氧烷 (PDES) 模量图。在 3 μm 的扫描范围内,模量从 1.5 到 15 MPa内变化。
- 产品分类
- 品牌分类
-
仪企号
布鲁克纳米表面仪器部
-
友情链接