电致发光测量仪/IVL测试/器件寿命测试系统 NovaLum

电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

NovaLum可以得到准确的亮度，因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量；配备自动化的角度分辨测试功能，可以快速得到样品发光的空间分布特性；配备了稳定性测试功能，进行老化测试，具有宽的亮度检测范围（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）；可以进行各种环境的测试，如气体氛围、器件不封装转移测试等，同时可以实现手套箱内快速换样测试；配备自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换等系统，可以极大地提升测试效率。

NovaLum拥有多种扫描模式：电压扫描、电流扫描、角度扫描、时间扫描； 分段循环电流、电压扫描：可以研究器件的迟滞效应等；实时测量：可以实时单点测量，灵活判断器件的工作情况；两线/四线测量：四线测量可更加准确地测量器件的电流电压；自动切换器件：通过软件选择测量的子器件；自动积分时间：避免因为亮度过低导致测不出信号、或亮度过高导致的过曝的问题；配备可视化实时观察及位移系统：在软件中可以实时观察到器件的表面发光情况，可软件操作对焦；自动保存数据：测量过程中自动保存数据，避免数据丢失状况等功能。

其广泛应用于量子点发光二极管（QLED）、有机发光二极管（OLED）、发光二极管（LED）、钙钛矿发光二极管（PeLED）、其它各种类型的电致发光器件。