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OPTM 系列显微分光膜厚仪价格:面议
- 品牌: 上海波铭
- 型号: OPTM
- 产地:浦东新区
使用显微光谱法在微小区域内通过JD反射率进行测量,可进行高精度膜厚度/光学常数分析。• 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上,能达到1秒/点的高
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上海波铭科学仪器有限公司
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使用显微光谱法在微小区域内通过JD反射率进行测量,可进行高精度膜厚度/光学常数分析。• 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上,能达到1秒/点的高