详细介绍
FEI quanta250 FEG 扫描电镜具有高真空、低真空和环境真空3种真空模式，配有二次电子、背散射电子探头（everhart thornley detector，ETD），气体二次电 子探头（gaseous secondary electron，GSED），大视场低真空二次电子探头
（large field detector，LFD）等。安装有能谱仪（energy dispersive spectroscopy，EDS），通过模式和探头的调节，辅助喷金等提高导电性的样品制备手段，可广泛应用于絮状污泥、颗粒状污泥等环境样品，生物材料、纳米材料等其它样品的形貌及元素分析。
Quanta 自身的多功能性使之非常适合用于材料科学。它善于执行传统高分辨率 SEM 成像/分析，在动态原位 实验方面同样游刃有余。Quanta 可以让您研究自然状态下的广泛样品，从而获得准确的结构和组成信息：
· 氧化/腐蚀样品
· 陶瓷材料、复合材料、塑料
· 薄膜和涂层
· 软材料：聚合物、药物、凝胶
· 颗粒物、多孔材料、纤维
仪器特点:
配有高真空探头、低真空探头和环扫探头，能适应观察不同样品的需求；具有漂移校正的功能；样品导航功能。
管理规定
该仪器属于精密仪器，使用需在平台管理人员参与下进行。
产品优势
FEI Quanta 250扫描电子显微镜能观察样品表面细微的三维立体结构，具有很强的真实感。可用于观察的样品主要有动、植物的器官和软组织，坚硬样品和生物硬组织，金属和导电样品等。场发射扫描电子显微镜能高效的收集样品电子显微图像、衍射花样、元素分布等有用信息，并能直接进行纳米尺寸的观察和研究，这样便可以对金属或纳米材料在原子尺寸上获得其微结构和缺陷方面信息。
英文名称：
sweep electron microscope
主要技术指标：
（1）Quanta250可用于不同的真空模式以分析导电及不导电样品并同时收集表征表面形貌和元素衬度信息的二次电子像和背散射像；
（2）降低样品制备：低真空/环境扫描可确保对不导电样品及含水样品进行无表面荷电的成像和分析；
（3）高真空模式图像分辨率为：二次电子像3.0nm@30kV,8.0nm@3kV,及背散射电子像4nm@30kV；
（4）低真空模式图像分辨率为：二次电子像3.0nm@30kV,10nm@3kV,及背散射电子像4.0nm@30kV（低真空下低加速电压性能保证了对不导电
仪器特点:
配有高真空探头、低真空探头和环扫探头，能适应观察不同样品的需求；具有漂移校正的功能；样品导航功能。
管理规定
该仪器属于精密仪器，使用需在平台管理人员参与下进行。
英文名称：
sweep electron microscope
主要技术指标：
（1）Quanta250可用于不同的真空模式以分析导电及不导电样品并同时收集表征表面形貌和元素衬度信息的二次电子像和背散射像；
（2）降低样品制备：低真空/环境扫描可确保对不导电样品及含水样品进行无表面荷电的成像和分析；
（3）高真空模式图像分辨率为：二次电子像3.0nm@30kV,8.0nm@3kV,及背散射电子像4nm@30kV；
（4）低真空模式图像分辨率为：二次电子像3.0nm@30kV,10nm@3kV,及背散射电子像4.0nm@30kV（低真空下低加速电压性能保证了对不导电
仪器特点:
配有高真空探头、低真空探头和环扫探头，能适应观察不同样品的需求；具有漂移校正的功能；样品导航功能。
管理规定
该仪器属于精密仪器，使用需在平台管理人员参与下进行。
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仪企号
北京华纳微科技有限公司
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