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纳米粒度仪

 
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Particle Metrix ZetaView 纳米颗粒追踪分析仪 (NTA)
  • 品牌: 德国Particle Metrix
  • 型号: ZetaView
  • 产地:德国
  • 器简介Zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术,结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能,让用户眼见为实,更加直观人性化。通过子体积的扫描,来自于数以千计的颗粒的zeta

Particle Metrix NANO FLEX II 在线纳米粒度仪
  • 品牌: 德国Particle Metrix
  • 型号: NANO FLEX II
  • 产地:德国
  • 德国Colloid Metrix公司是一家专业研发和制造表征交替特征的仪器公司。在胶体配方分析方面, CMX公司的STABINO,ZETA-CHECK和NANO-FLEX为用户提供了全新的流动/Ze

麦奇克 NANOTRAC WAVE II 纳米粒度及Zeta电位分析仪
  • 品牌: 美国麦奇克
  • 型号: NANOTRAC WAVE II
  • 产地:美国
  • 纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解,经过多年的市场调研和潜心研究,开发出新一代NANOTRAC WAV

麦奇克 STABINO ZETA 电位分析仪
  • 品牌: 美国麦奇克
  • 型号:STABINO ZETA
  • 产地:美国
  • 仪器简介可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中,同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因,故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后,总电荷和电荷密度是需要知道的

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