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Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 形态表面分析用于研究增殖性和毒性处理引起的细胞存活情况
Dr. Michele Ferrari, Dr. Francesca Cirisano, and Dr. M. Carmen MoránFaculty of Pharmacy and Food Sci...
发布:北京仪光科技有限公司 更新时间:2024-05-15 浏览量:120 -
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于端铣刀的多角度特Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于端铣刀的多角度特性描述性描述
在工具行业中,光学测量在从设计和工具使用的角度都是取得成功的关键。光学轮廓仪为制造商提供宝贵的信息,帮助他们优化他们的工具和工艺。 ...
发布:北京仪光科技有限公司 更新时间:2024-05-15 浏览量:111 -
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于CMP中垫面光泽监测及3D测量
化学机械平面化(CMP)是半导体、硬盘和LED晶片制造行业的关键过程,用于实现基板晶片所需的平整度。平面化对于确保结构内多层互连的功能性以及在保持均匀性的同时...
发布:北京仪光科技有限公司 更新时间:2024-05-15 浏览量:147 -
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于维尔戈干涉仪仪器挡板的粗糙度表征
引力波是时空织物中的波动。当重要的宇宙事件如超新星爆炸或黑洞之间的相互作用发生时,所产生的引力波可以在地球上被探测到。经过50年的科学研究和技术发展,我们已经...
发布:北京仪光科技有限公司 更新时间:2024-05-15 浏览量:106
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