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三维光学轮廓仪ContourX-500价格:面议
- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:ContourX-500
- 产地:美国
ContourX-500 光学轮廓仪是全球功能最全面的自动化台式系统,可快速完成非接触式三维表面计量。ContourX-500 具有卓越的 Z 轴分辨率和准确度,并具备布鲁克落地式白光干涉(WLI)仪...
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三维光学轮廓仪ContourX-200价格:面议
- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:ContourX-200
- 产地:美国
ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同类产品中*快、*准确、可重复性*高的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小,采用更大视场、5...
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三维光学轮廓仪ContourX-100价格:面议
- 品牌: 德国布鲁克
- 型号:ContourX-100
- 产地:美国
具备最高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小,所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉(WLI)创新技术,具有强大的...
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ZYGO 3D光学轮廓仪 ZeGage Pro价格:面议
- 品牌: 翟柯
- 型号:ZeGage Pro
- 产地:美国
ZYGO 3D光学轮廓仪 ZeGage Pro可直接用于生产的三维光学轮廓仪系统。 ZeGage™ Pro 和 ZeGage™ Pro HR 三维光学轮廓仪可对多种类型表面的微米和纳米级特征进行非接...
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ZYGO 光学轮廓仪 NewView 9000价格:面议
- 品牌: 翟柯
- 型号:NewView 9000
- 产地:美国
ZYGO 光学轮廓仪 NewView 9000 提供了强大、多功能的非接触式光学表面分析。它可以简单和快速地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样...
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ZYGO 3D光学轮廓仪 Nexview NX2价格:面议
- 品牌: 翟柯
- 型号:Nexview NX2
- 产地:美国
ZYGO 3D光学轮廓仪 Nexview NX2 是为更高应用需求设计的,集超精密、先进算法、应用灵活性和自动化为一体,优异展现了ZYGO相干扫描干涉(CSI)技术的能力。 ZYGO 3D光学轮廓仪...
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ZYGO 3D表面轮廓仪Nexview™ NX2价格:面议
- 品牌: 翟柯
- 型号:Nexview™ NX2
- 产地:美国
Nexview™ NX2 光学轮廓仪是为更高应用需求设计的,集超精密、先进算法、应用灵活性和自动化为一体,优异展现了ZYGO相干扫描干涉(CSI)技术的能力。 Nexview™ NX2 光学轮廓仪采...
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- 品牌: 翟柯
- 型号:ZYGO NewView™ 9000
- 产地:美国
NewView™ 9000 3D光学轮廓仪提供了强大、多功能的非接触式光学表面分析。它可以简单和快速地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样品制备...
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ZYGO 3D表面轮廓仪ZeGage Pro价格:面议
- 品牌: 翟柯
- 型号:ZeGage Pro
- 产地:美国
可直接用于生产的三维光学轮廓仪系统。 ZeGage™ Pro 和 ZeGage™ Pro HR 三维光学轮廓仪可对多种类型表面的微米和纳米级特征进行非接触式测量和表征,实现制造环境中的质量控制和...
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- 品牌: 西班牙Sensofar
- 型号:S mart&S onix
- 产地:西班牙
S mart的重量约只有S neox的一半(6kg),加上紧凑的外观使的它在安装上有更多选择,例如可以直接在生产在线安装做分析等。一般来说,在生产的环境中通常都会有震动或有害物质污染等因素而不适合放置...
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- 品牌: 西班牙Sensofar
- 型号:S wide
- 产地:西班牙
S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积Z高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。 1. 亚微米高度可...
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三维白光干涉仪解决方案
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Sensofar 三维共焦干涉显微镜半导体检测领域应用
关于在半导体领域的应用,我们通常集中在制造过程的后端封装环节:Sensofar的产品可以用来表征关键尺寸,表征材料的粗糙度,以及进行缺陷检测等。 1、碳化硅基晶圆检测由于其优异的热稳定性与特...
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Sensofar 三维共焦干涉显微镜半导体检测领域应用
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三维白光干涉仪产品文章
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Sensofar共聚焦白光干涉仪|用于测量电池的表面纹理
在我们日益电气化的世界中,电池在从电动汽车到便携式电子产品等所有产品的供电方面发挥着关键作用。Sensofar的非接触式3D光学轮廓仪非常适合测量电池的表面纹理、粗糙度、平...
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Sensofar共聚焦白光干涉仪|对用于后端封装环节
关于在半导体领域的应用,我们通常集中在制造过程的后端封装环节:Sensofar的产品可以用来表征关键尺寸,表征材料的粗糙度,以及进行缺陷检测等。碳...
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对通过 ROBOCASTING 技术形成的陶瓷层进行几何测量
对通过 ROBOCASTING 技术形成的陶瓷层进行几何测量 借助 3D 光学轮廓仪 S neox 的共聚焦模式,我们成功地测量了印刷陶瓷零件,并且...
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对干式电解抛光工艺的表征
在GPAINNOVA,S neox Five Axis专门用于量化抛光工艺的质量,并说明使用DLyte抛光后样品粗糙度降低的情况 GPAINNOVA...
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Sensofar共聚焦白光干涉仪|用于测量电池的表面纹理