美国KLA/KLA

灵活且用户友好的纳米压痕仪，适用于测量模量、硬度（Oliver-Pharr模型，ISO 14577）、储存模量/损耗模量以及万能力学试验。能够施加高达1N的力，为硬质材料测试提供更高载荷和更大深度。可...

iNano®纳米压痕仪使测量薄膜、涂层和小体积材料变得更简单。准确、灵活、用户友好的仪器可以进行多样的纳米材料力学测试，包括压痕、硬度、划痕和通用的纳米尺度测试。大的力和位移动态测量范围允许对从软聚合...

Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜，可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支...

2D价格、3D性能 Profilm3D是经济实惠、Z先进的光学轮廓仪。使用行业标准的白光干涉仪 (WLI) 和可选的相移干涉仪 (PSI) 来生成高质量的表面轮廓和无限深度的真彩色图像。 王树刚 ...

可在高温下进行各种原位力学的压缩和拉伸实验，与 SEM/FIB/EDS / EBSD 等完美结合！ KLA InSEM 系列可以和全球各个SEM和FIB厂商的主流型号联合工作，包括FEI、Jeol、...

可在常温下进行各种原位力学的压缩和拉伸实验，与 SEM/FIB/EDS / EBSD 等完美结合！ KLA InSEM 系列可以和全球各个SEM和FIB厂商的主流型号联合工作，包括FEI...

所有的纳米压痕试验都取决于精确的载荷和位移数据，科磊公司Z新的第六代G200X型纳米压痕仪采用线性度极好的电磁驱动的载荷装置和相互独立的三片电容位移传感器，从而保证 测量的精确度，独特...

设备特点 台阶高度：几纳米至1000μm 微力恒力控制：0.03至50mg 样品全直径扫描，无需图像拼接 视频：500万像素高分辨率彩色摄像机...

设备特点 台阶高度：几纳米至1000um 微力恒力控制：0.03mg至50mg 样品全直径扫描，无需图像拼接 视频：500万像素高分辨率彩色摄像...

设备特点 台阶高度：几纳米至1200μm 低触力：0.03至15mg 视频：500万像素高分辨率彩色摄像头 梯形失真校正：消除侧视光学系统引起的失真 ...

台阶高度：几纳米至1200μm 低触力：0.03至15mg 视频：500万像素高分辨率彩色摄像头 梯形失真校正：消除侧视光学系统引起的失真 圆弧校正：消除由于探...

Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点...