详细介绍
设备概况
FT-N200是一款支持多种型号闪存颗粒的闪存芯片智能测试系统，系统可提供高温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最多可达30 种，并行测试闪存颗粒数量最多可达240 颗；FT-N200 可以在对闪存颗粒不产生大量损耗的条件下，精准预测闪存颗粒的剩余寿 命；同时支持误码率、平均擦除时间、平均编程时间、坏块容量、剩余容量等多种可靠性数据测量和智能分析。
系统可记录测试数据并根据测试结果自动运算测试结果，并方便快捷地一键导出测试报告，通过二维/三维图直观显示闪存测试过程中的性能参数变化趋势，为闪存颗粒等级分类及应用提供可视化的图表数据，并基于闪存颗粒测试结果进行闪存颗粒等级智能划分。
设备组成
名称 | 规格 | 数量 | |
主 体 | 测试板 | PCBA_XC7Z030_NAND_TEST_V1_3_Rohs | 30 |
温箱 | 生产版 FT-N200 定制温箱 L180cm*W72.5cm*H187cm；可并行测试颗粒数量：1~240 颗； 温箱温度范围：+10℃～+150℃； 含维护用螺丝刀、备用螺丝、扳手； |
1 | |
上位机 | CPU-i7，16G 内存，1T 固态硬盘+机械硬盘 3T； 21.5 寸显示器； | 1 | |
交换机 | 千兆交换机 | 2 | |
配 件 | 真空吸笔 | 便携式防静电 | 1 |
闪存规格限位框 | 12mm*18 mm（测试底座内置） | 240 | |
闪存规格限位框 | 14mm*18 mm | 240 | |
附仪安装 U 盘 | 32GB | 1 | |
软 件 | NAND 闪存自动化测试分类与寿命预测系统 1.0 | 1 | |
NAND 闪存高低温测试分类与筛选仪 V1.0 | 1 | ||
产品功能
产品功能 | |
基础测试 | 芯片信息识别 |
实时功耗测试 | |
误码率测试 | |
平均擦除时间测试 | |
平均编程时间测试 | |
坏块数测试 | |
坏块容量测试 | |
剩余可用容量测试 | |
闪存等级划分 | |
剩余寿命预测 | |
一键导出测试报告 | |
高温数据保持测试 | |
产品优势
该系统是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统可提供高温测试环境，并行测试闪存颗粒种类Z多可达30种，并行测试闪存颗粒数量Z多可达240颗。同时支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供Z直观的图形化测 试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供Z精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级，是国内唯一自主研发的闪存芯片智能测试系统，可以为存储产商、科研机构以及测试中心等提供全面的产品解决方案和专业的测试服务。
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仪企号
置富科技（深圳）股份有限公司
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