详细介绍
设备组成
名称 | 规格 | 数量 | |
主 体 | 测试板 | PCBA_XC7Z030_NAND_TEST_V1.0_B_Rohs | 1 |
外壳 | FT-N008B 黑色 | 1 | |
外箱 | 闪存质量等级检测仪手提箱 | 1 | |
配 件 | Micro-USB 线 | Micro-USB 通用 | 1 |
真空吸笔 | 便携式防静电 | 1 | |
网线 | 双绞网线 2m | 1 | |
电源 | 12V 直流电源适配器 | 1 | |
闪存规格限位框 | 12mm*18 mm（测试底座内置） | 8 | |
闪存规格限位框 | 14mm*18 mm | 8 | |
系统安装 U 盘 | 32GB | 1 | |
软 件 | 闪存筛选方法软件 V1.0.0 | 1 | |
NAND 闪存自动化测试分类与寿命预测系统 1.0 | 1 | ||
产品功能
产品功能 | |
基础测试 | 芯片信息识别 |
实时功耗测试 | |
误码率测试 | |
平均擦除时间测试 | |
平均编程时间测试 | |
坏块数测试 | |
坏块容量测试 | |
剩余可用容量测试 | |
闪存等级划分 | |
剩余寿命预测 | |
一键导出测试报告 | |
实验测试 | 最大错误数测试 |
平均擦除时间测试 | |
平均编程时间测试 | |
闪存错误数变化绘图 | |
实际可擦写次数测试 | |
最大页面错误数变化测试 | |
擦除时间变化测试 | |
编程时间变化测试 | |
高阶测试 | 测试电压拉偏 |
设置测试范围（块间隔） | |
ECC 设定 | |
挑选测试 pattern | |
Read-retry | |
数据保持 | |
读干扰 | |
产品优势
闪存芯片智能测试系统 FT-N008B 是一种可以量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统并行测试闪存颗粒数量Z多可达 8 颗。
闪存芯片智能测试系统 FT-N008B 支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余 寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠 性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供Z直观的图形化测 试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供Z精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测 结果实现智能分级。
闪存芯片智能测试系统 FT-N008B 支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余 寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠 性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供Z直观的图形化测 试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供Z精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测 结果实现智能分级。
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仪企号
置富科技（深圳）股份有限公司
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