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• 任何测试间距都具有噪声。 • 当选配EZ1-LNA温度组件时，噪声低于0.5 µemu。 • 在可用样品空间内噪声低于0.1 µemu。 • 场噪声低，约5 mOe。 • 磁场分辨率高，约...

- 温度测量可低至300 mK，测量分辨率高达0.1 mK（24位ADC) ; - 标准配置12路测温通道，并支持选配2~32路测温通道； - 每个测温通道之间相互独立，采样速率均为10 SPS;...

- 温度测量和控制可低至300 mK; - 8路独立的温度测量通道，分辨率高达0.1 mK（24位ADC) ; - 自动调整温度计激励电流，以获得Z高的测量精度和Z低的发热量； - 支持1000...

• 互换性 • 可重复性 • NIST标准 • 结实

- 温度测量和控制可低至300 mK; - 2路独立的温度测量通道，分辨率高达0.1 mK（24位ADC) ; - 自动调整温度计激励电流，以获得Z高的测量精度和Z低的发热量； - 支持1000...

• 温度范围广：从 4 K 到 325 K（500K或800K可选） • 样品在真空中，采用热传导冷却 • 样品空间大，可搭配多种类型样品座可对各种薄膜、块体、粉末和液体样品进行测试 • 铝制真...

• 温度范围广：从 78 K 到 500 K（800K可选，使用泵抽减压降温Z低温度可选65K） • 样品在真空中，采用热传导冷却 • 样品空间大，可搭配多种类型样品座可对各种薄膜、块体、粉末和液...

• 液氮高低温真空探针台，15分钟内腔体真空度可达到 10E-4torr，液氮消耗量小,降到Z低温度只需0.2L液氮，使用方便快捷同时兼顾经济性。 • 探针臂的位移调节在真空腔外操作，可以在不破坏真...

Avantgarde 室温手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，外接不同的测量仪器，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测，用于室温下的芯...