半导体器件特性参数分析仪
陕西天士立科技有限公司半导体器件特性参数分析仪STD2000-C
可测试Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦 等多种电子元器件的静态直流参数(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、内阻Rds(on))
基于IV曲线和CV曲线追踪扫描可进行半导体器件特性参数分析
第一部分:产品介绍
半导体器件特性参数分析仪产品扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。
曲线追踪仪(晶体管图示仪))功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线,可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数,典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如Transistor hFE vs.IC,Transistor VCESAT vs.IB and MOSFETRDSvs.VGS等曲线数据。此外,针对多条曲线,设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的Excel工作表。系统能够更快,更简洁的创建曲线(单击,双击,选择输入菜单,单击)。就是这么简单。
设备支持在单个DUT上运行高达10条不同曲线的能力,在运行过程中,每个图表都是可视的,每个数据集都被加载到一个被命名的Excel 工作表中。系统运行速度快,可进行数据记录,提供更高级的数据工具箱,能够运行多条曲线并自动排序,自动将数据存入Excel 表格,具有缩放功能,光标重新运行功能以及其他许多优点。
第二部分:量程精度
第三部分:测试种类和参数
第四部分:应用场景和产品特点
一、应用场景
1、测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试,主要功能为曲线追踪仪)
2、失效分析(对失效器件进行测试分析,查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)
3、选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)
4、来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)
5、量产测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试)
6、替代进口(半导体器件特性参数分析仪可替代同级别进口产品)
二、产品特点
(1) 采用32位嵌入式计算机,运行速度快,扩展能力强,实现脱机运行;
(2) 采用高速 16 位并行 D/A、A/D 和专用并行内部总线技术设计,速度快、稳定性高;
(3) 采用脉冲法测试参数;
(4) 采用多级开尔文技术,系统稳定性高,测试结果准确,重复性好;
(5) 在线系统状态、测试结果、故障定位显示功能,使得使用方便简单;
(6) 完整的自检及校准能力,10分钟将系统故障定位到元件级,30分钟完成系统精度检测;
(7) 完整的软、硬件升级/扩展功能;
(8) DUT 引腿接触性测试、加压限流能力、A-K 短路保护、过压/过流保护等能力,保证了系统安全,有效防止 DUT 损伤;
(9) 关键元器件均采用进口原装,精密电阻采用国产军级,全部采用进口原装湿型继电器,装焊工艺现已采用航天工艺线代工,保证系统可靠性高于进口产品;
(10) 二极管极性自动判别功能,不需人工关注极性,提高操作速度,减少失误;
(11) 填表式编程,1~3分钟内即可完成一个新器件编程;
(12) 混合参数编程方式,使电参数测试编程不受器件类别的限制,支持技术人员实现分析编程;
(13) 单参数测试延时功能,用户可根据需要选择参数测试延迟时间,增加参数测试稳定性;
(14) 提供系统内部流性负载、阻性负载选择和外部负载接口,最大极限地满足测试需求;
(15) 计算步功能,允许将任意测试程序步的测试结果列式计算,形成新的参数,方便新参数定义;
(16) 分类、分档功能,以便通过编程确定 DUT 的同异性,测试后自动分类、分档、配对等,提高 DUT 使用价值;
(17) 单步测试功能,用于对单个参数进行测试,同时将测试结果值在前面板上显示,方便在线分析;
(18) 所有测试夹具进行了误差补偿和噪声拟制设计。
(19) IV曲线显示
(20) 局部放大功能
(21) 程序保护最大电流/电压,以防损坏
(22) 品种繁多的曲线
(23) 可编程的数据点对应
(24) 增加线性或对数
(25) 可编程延迟时间可减少器件发热
(26) 保存和重新导入入口程序
(27) 保存和导入之前捕获图象
(28) 曲线数据直接导入到EXCEL
(29) 曲线程序和数据自动存入EXCEL
(30) 程序保护最大电流/电压,以防损坏
第五部分:IV曲线扫描能力
陕西天士立 半导体器件特性参数分析仪 STD2000-C 能测很多电子元器件(如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等)产品广泛的应用在院所高校、封测厂、电子厂.....
(19)IV曲线显示
(20)局部放大功能
(21)程序保护Z大电流/电压,以防损坏
(22)品种繁多的曲线
(23)可编程的数据点对应
(24)增加线性或对数
(25)可编程延迟时间可减少器件发热
(26)保存和重新导入入口程序
(27)保存和导入之前捕获图象
(28)曲线数据直接导入到EXCEL
(29)曲线程序和数据自动存入EXCEL
(30)程序保护Z大电流/电压,以防损坏