三维表面形貌仪可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头,也可配备普通变焦镜头,使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。三维表面形貌仪不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量,也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间。
品牌介绍:SEMICAPS 于 1989 年开始运营,当时新加坡国立大学 (NUS) 的讲师成立了控股公司,将基于集成电路故障分析和可靠性中心 (CICFAR) 开发的技... [查看更多]
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