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对微纳器件进行表征时，常关注的便是器件的表面形貌和三维尺寸信息，比如粗糙度、深度、体积等，这些都是评价微纳加工工艺的重要指标。然而，在进行表面三维的分析工作中，我们可能常遇到这样的苦恼：

　　光学明场无法直接定位到亚微米级缺陷结构!

　　样品结构太复杂，微弱信号无法捕获，难以准确测量尺度信息!

　　三维接触式测量经常会损伤柔软样品，导致测试结果不准确!

　　今天，友硕小编将从下面几个角度来看看蔡司激光共聚焦显微镜如何帮助你更好地解决这些问题。

　　失效分析：多尺度多维度原位分析!

　　器件表面往往存在一些特殊的结构或缺陷，比如亚微米尺度的划痕，这些特征难以在光学明场下被直接观察到。C-DIC(圆微分干涉)观察模式可以让样品表面亚微米尺度的微小起伏都可以呈现出浮雕效果，帮助我们快速定位并开展下一步的分析工作。

　　▲ 不同观察方式下晶圆表面缺陷

　　在定位到感兴趣区域后，可以直接切换到共聚焦模式，进行表面三维形貌扫描，并进行尺寸测量及分析，无需转移样品即可完成样品多尺度多维度的表征。

　　▲共聚焦三维图像及深度测量

　　对于某些样品，暗场和荧光模式也是一种很好定位方法，表面起伏的结构在暗场下尤其明显，如蓝宝石这类能发荧光的晶圆，利用荧光成像也能帮助我们快速地定位到失效结构。甚至，共聚焦还可以和电镜或者双束电镜(FIB)(点击查看)实现原位关联，在共聚焦显微镜下进行定位后转移样品到电镜下进行更高分辨的表征分析。

　　深硅刻蚀：结构深，信号弱，蔡司激光共聚焦显微镜有办法!

　　深硅刻蚀的样品通常为窄而深的沟壑结构。接触式测量(如台阶仪)无法接触到沟壑底部测得信息，而由于结构特殊造成了反射光信号损失，常规白光干涉或者显微明场无法捕获底面的微弱信号。因此，不得不对样品进行裂片分析，这不仅破坏了样品，而且还使分析流程复杂化。

　　西湖大学张先锋老师用蔡司激光共聚焦显微镜对深163.905 μm，宽3.734μm的刻蚀坑进行成像，高灵敏探测器、大功率激光及Z Brightness Correction技术可以帮助成功检测到底部的微弱信号，完成大深宽比(近50：1)样品的三维形貌表征与测量，轻松实现无损检测分析。

显微镜的发明，使得我们进入了微观世界，开拓了新的研究领域。随着显微镜制造产业向ZG内陆转移，我国已经成为显微镜生产大国，每年约有70%左右的显微镜用于出口。显微镜在科学领域的深入应用，使得显微镜行业前景巨大，生物、化学等科研部门随处可见显微镜，已经成为了科研人员不可或缺的一项工具。

科技领域的细分和深入发展，也带来了显微镜种类和功能的不断提升。金相学过去曾定义为研究金属及合金的成分、组织结构以及它们同性之间关系的科学，随着研究领域的不断扩大，现在金相学主要借助于光学显微术和电子显微学来研究金属及合金在不同状态下组织结构以及各种缺陷的特征，如相的尺寸、形貌、分布及取向关系，晶料、 晶料间界的尺寸、形貌、取向关系、位错、空洞、裂纹、断口等。在金相学研究中，重要的一项工具就是金相显微镜。

作为仪器，如何保护延长其使用寿命，关系到日常的仪器运用，因此，作为金相显微镜操作人员，需要了解金相显微镜的使用注意事项，严格遵守操作流程，才能确保后续研究的有序进行。

那么金相显微镜有哪些常见的使用注意事项呢？

金相显微镜使用注意事项

1.调焦时切勿让试样碰到物镜而划伤物镜。

2.当载物台垫片圆孔ZX的位置远离物镜ZX位置时不要切换物镜，以免划伤物镜。

3.调节亮度时，不要过度调节，有助于保护视力，以免影响灯泡的正常使用寿命。

4.严禁用手指直接接触显微镜镜头的玻璃部分和试样磨面。

5.在旋转粗调手轮时动作要慢，碰到阻碍时不得用力强行转动，否则会损坏部件。

6.当装载平台垫圆孔ZX偏离物镜ZX时，不要切换物镜，以免划伤物镜。

7.操作时必须特别小心，不能有任何剧烈的动作。不允许私自拆卸光学系统。

8.金相显微镜镜头表面沾有油污或指纹时，可用脱脂棉蘸少许3:7无水乙醇和乙 醚的混合液轻轻擦试。

9.使用低倍物镜观察调焦时，注意避免镜头与试样撞击，可从侧面注视接物镜，将载物台尽量下移﹐直至镜头几乎与试样接触(切不可接触)，再从目镜中观察。

10.每次更换灯泡时，必须将灯座反复调校。