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超声波探伤过程中发现缺陷,这么算对么

半芹春竹 2017-08-10 10:17:02 317  浏览
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全部评论(1条)

  • 就当我还在I 2017-08-11 00:00:00
    20mm是超声波探头的晶片直径,而并非是超声波传递在锻钢件中的声束截面,因为超声波声束在进入工件后是有一定扩散角的,同时在近场区还有许多副声束,对回波定性定量时一定要确认在回波Z高时的探头ZX才会比较准确。但是单独只用一个直探头,遇到倾斜界面回波幅度则不是真实的,需要在其他方向辅以检测为好

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超声波探伤过程中发现缺陷,这么算对么
 
2017-08-10 10:17:02 317 1
超声波探伤过程中发现缺陷,这么算对么?
工件厚度为400MM,用的是2.5P20Z直探头。灵敏度为400MM处底波到达屏幕80%处,增加44dB即为400MM处2MM当量灵敏度。例如,在200MM处有一缺陷,降低4dB后,缺陷波到屏幕的80% 该缺陷大小可以这么算:4=40lg400a/2x200 0.1=lga a=1.25 这么计算的话对么??... 工件厚度为400MM,用的是2.5P20Z直探头。灵敏度为400MM处底波到达屏幕80%处,增加44dB即为400MM处2MM当量灵敏度。例如,在200MM处有一缺陷,降低4dB后,缺陷波到屏幕的80% 该缺陷大小可以这么算:4=40lg400a/2x200 0.1=lga a=1.25 这么计算的话对么??? 还有在120MM处有一缺陷,降低8dB后,缺陷波到屏幕的80% 8=40lg400a/2x120 0.2=lg5a/6 a=1.9 在200MM处有一缺陷,降低2dB后,缺陷波到屏幕的80% 2=40lg400a/2x200 0.05=lga a=1.12 400后的a均代表未知缺陷大小。 我是探伤新手,学的时候本来就半懂不懂,现在算了半天,更加迷茫了,希望高手能指点迷津,谢谢了。如若算的不对,还请附上正确答案,过程越详细越好,另赠高分,谢谢了,特急! 展开
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例如JB/T5000.15-2007中定义“密集区缺陷:在荧光屏扫描线相当于50mm声程范围内同时有5个或5个以上缺陷反射信号;或在50mm×50mm的探测面上发现同一深度内有5个或5个以上缺陷反射信号;延伸性缺陷:缺陷连续回波高度至少在一个方向上不得低于起始记录当量值,... 例如JB/T5000.15-2007中定义“密集区缺陷:在荧光屏扫描线相当于50mm声程范围内同时有5个或5个以上缺陷反射信号;或在50mm×50mm的探测面上发现同一深度内有5个或5个以上缺陷反射信号;延伸性缺陷:缺陷连续回波高度至少在一个方向上不得低于起始记录当量值,其延伸长度应大于缺陷容许的Z大当量直径,延伸性缺陷的延伸长度采用半波高度法测定。在测定延伸尺寸时应考虑探头的声域特性进行修正." 提问 1、密集缺陷判定:上述中密集缺陷定义的在一定范围内5个或5个以上回波未定义当量值,那么应该怎么确定??例如现有一工件在探伤灵敏度下时在50声程内发现有2个很小的回波,但在扫查灵敏度下发现有5个以上回波。应该判定为密集吗???? 2、延伸缺陷判定:例如探伤时发现工件有一缺陷在探伤灵敏度下未达记录限,具有一定长度(长度很短),但在扫查灵敏度下发现该缺陷长度很长(该缺陷为非危害性缺陷)。那么该缺陷判定为延伸吗? 展开
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