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拉力试验机和剥离力试验机的异同点

一、适用范围：　

1、 拉力试验机的适用范围：拉力试验机也称拉力机，主要适用于塑料板材、管材、异型材，塑料薄膜及橡胶、电线电缆、防水卷材、金属丝等材料的各种物理机械性能测试，拉力机用来对金属材料和非金属材料进行拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离等力学性能试验用的机械加力，拉力机夹具作为仪器的重要组成部分，不同的材料需要不同的夹具，也是试验能否顺利进行及试验结果准确度高低的一个重要因素。　

2、 剥离力试验机的适用范围：适用于塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘剂、胶粘带、不干胶、医用贴剂、保护膜、离型纸、组合盖、金属箔、隔膜、背板材料、无纺布、橡胶、纸张纤维等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力等性能测试。　

二、结构原理：　　

1、拉力试验机结构原理：拉力试验机由一根或两根垂直的承载柱和一个液晶显示屏所组成，承载柱安装在一个固定水平底座上，顶部是一个活动的水平横梁。现在的大部分电子拉力机中，支柱一般是由丝杠驱动来确定活动横梁的位置。 　　拉力试验机的规格由框架能够承受的最大负载和承载单元的最大负载结合起来进行表示。负载单元安装在电机驱动或油压驱动的移动横梁上。与夹具相连的承载单元测量力，可以从数字显示或电脑上读数。许多电子拉力试验机具有可互换的传感器，从而能与待测试材料匹配。 　

2、剥离力试验机结构原理：采用卧式结构，用高精度齿轮减速电子调速电动机拖动负载夹头，加载性能平稳。整机由拖动电机、主机壳、微电脑控制器，微型打印机等组成，测力单元采用高精度力值传感器和以单片机为中央处理器的数字控制系统构成。

三、测试仪器：

XLW-H 智能电子拉力试验机适用于塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘剂、胶粘带、不干胶、医用贴剂、离型纸、保护膜、组合盖、金属箔、隔膜、背板材料、无纺布、橡胶、纸张纤维等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力、抗压等性能测试。

BLD-200H电子剥离试验机适用于胶黏剂、胶粘带、不干胶、复合膜、人造革、编织袋、薄膜、纸张、电子载带等相关产品的剥离、剪切、拉断等性能测试。通过材料的剥离试验，集中反映材料的粘结强度，是控制胶粘制品不开胶、不脱落的重要测试指标，可有效帮助各企事业单位提高产品的性能。

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气体发生器和燃烧器的区别?

光离子化检测器（简称PID）和火焰离子化检测器（简称﹐FID）是对低浓度气体和有机蒸汽具有很好灵敏度的检测器，优化的配置可以检测不同的气体和有机蒸汽。这两种技术都能检测到ppm水平的浓度，但是它们所采用的是不同的检测方法。每种检测技术都有它的优点和不足，针对特殊的应用就要选用适合的检测技术来检测。总的来说,PID体积小巧、重量轻、使用简单，因此它具有很好的便携性能。

PID和FID的工作方式

        PID是采用一个紫外灯来离子化样品气体，从而检测其浓度。当样品分子吸收到高紫外线能量时，分子被电离成带正负电荷的离子，这些离子被电荷传感器感受到，形成电流信号。紫外线电离的只是小部分 VOC分子，因此在电离后它们还能结合成完整的分子，以便对样品做进一步的分析。

        FID是采用氢火焰的办法将样品气体进行电离，这些电离的离子可以很容易的被电极检测到，这些样气被完全的烧尽。因此 FID﹑的检测对样品是有破坏性的，检测完毕后排出的样品是不能在用来做进一步分析。

为何PID和FID的读数不一样?

       因为― PID和FID有不同的灵敏度，且是用不同的气体来标定的。

PD对不同气体的灵敏度排列

      芳香族化合物和碘化物>石蜡、酮、醚、胺、硫化物>酯、醛、醇、脂肪>卤化脂、乙烷>甲烷（没响应)。

       芳香族化合物和长链化合物>短链化合物(甲烷等)>氯、溴和碘及其化合物。因此在同样的气流情况下，我们同时用﹐PID和﹐FID 来检测会得到不同的数据。总的来讲， PID是对官能团的一个响应，FID是对碳链的响应。只有像丙烷、异丁烯、丙酮这样的分子,PID 和﹐FID 对它们的响应灵敏度十分相近，另外,使用不同的 PID灯还会有不同的灵敏度。例如丁醇在 9.8、10.6和11.6ev的灯下灵敏度分别为﹐1、15、50。此外，多数现场使用的便携式FID有一个火焰隔绝装置，控制火焰，使传感器具有防爆性能。当有大分子缓慢扩散到﹐FID的传感器时往往补偿了响应的不足，而 PID可通过选择不同能量的灯来避免一些化合物的干扰,或者选择高能量的灯来检测广谱的化合物，因此可以说﹐FID与PID相比是一个更广谱的检测器它没有任何选择性。

甲烷的相应和干扰

      FID常用甲烷来标定，但是 PID对甲烷没有任何的响应，需要有一个 12.6eV的紫外光源才能将甲烷离子化，目前 PID是不能做到的。因此 FID是检测天然气(主要有甲烷组成）的有利设备。另一方面，PID能很好的检测垃圾填埋场的有毒VOc，如果用FID来检测垃圾填埋场的voc那么现场的甲烷气体会对 FID产生极大的干扰。

两者的检测极限、范围和线性

      FID 能检测1-50000ppmsPID能检测1ppb-4000ppm或0.1ppm-10000ppm的 VOC,PID可以检测更低浓度的 voc，在高浓度(>1000ppm)情况下，FID有更好的线性。

高湿度

      一般情况，湿度对﹐FID 没有任何影响，因为火焰能将湿度清除，除非有水直接进入到传感器中。PID在高湿度情况下会降低响应，通过对传感器的清理和维护可以避免因湿度产生的滞后响应。

 惰性气体

     PID能在像氮气或氩气的惰性气体环境中直接检测VOC,响应不会随惰性气体浓度的变化有任何的影响。FID的工作原理要求有固定浓度的氧气存在，便携式FID的氧气来源通常是来自样品气体。因此，如果要测量一个管道或容器内的稳定气体时，FID﹐就要采用周围的氧气来稀释样品后才能成功检测。

电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中，两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。 在这篇文章中，将简要描述他们的相似点和不同点。

扫描电镜和透射电镜的工作原理

从相似点开始, 这两种设备都使用电子来获取样品的图像。 他们的主要组成部分是相同的;  

· 电子源;

· 电磁和静电透镜控制电子束的形状和轨迹;

· 光阑。

所有这些组件都存在于高真空中。  

现在转向这两种设备的差异性。扫描电镜（SEM）使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子（详细了解SEM中检测到的不同类型的电子）。

而透射电镜（TEM）是使用透射电子，收集透过样品的电子。 因此，透射电镜（TEM）提供了样品的内部结构，如晶体结构，形态和应力状态信息，而扫描电镜（SEM）则提供了样品表面及其组成的信息。  

而且，这两种设备最明显的差别之一是它们可以达到的ZJ空间分辨率; 扫描电镜（SEM）的分辨率被限制在〜0.5nm，而随着最近在球差校正透射电镜（TEM）中的发展，已经报道了其空间分辨率甚至小于50pm。

哪种电子显微镜技术最适合操作员进行分析？

这完全取决于操作员想要执行的分析类型。 例如，如果操作员想获取样品的表面信息，如粗糙度或污染物检测，则应选择扫描电镜（SEM）。 另一方面，如果操作员想知道样品的晶体结构是什么，或者想寻找可能存在的结构缺陷或杂质，那么使用透射电镜（TEM）是wei一的方法。

扫描电镜（SEM）提供样品表面的3D图像，而透射电镜（TEM）图像是样品的2D投影，这在某些情况下使操作员对结果的解释更加困难。  

由于透射电子的要求，透射电镜（TEM）的样品必须非常薄，通常低于150nm，并且在需要高分辨率成像的情况下，甚至需要低于30nm，而对于扫描电镜（SEM）成像，没有这样的特定要求。  

这揭示了这两种设备之间的另一个主要差别：样品制备。扫描电镜（ SEM）的样品很少需要或不需要进行样品制备，并且可以通过将它们安装在样品杯上直接成像。  

相比之下，透射电镜（TEM）的样品制备是一个相当复杂和繁琐的过程，只有经过培训和有经验的用户才能成功完成。 样品需要非常薄，尽可能平坦，并且制备技术不应对样品产生任何伪像（例如沉淀或非晶化 ）。 目前已经开发了许多方法，包括电抛光，机械抛光和聚焦离子束刻蚀。 专用格栅和支架用于安装透射电镜（TEM）样品。

SEM vs TEM：操作上的差异

这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。  

与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。  

然而，扫描电镜（SEM）可以实现的ZD视场（FOV）远大于透射电镜（TEM），用户可以只对样品的一小部分进行成像。 同样，扫描电镜（SEM）系统的景深也远高于透射电镜（TEM）系统。

表I：扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）之间主要差异的总结

一般来说，透射电镜（TEM）的操作更为复杂。 透射电镜（TEM）的用户需要经过强化培训才能操作设备。 在每次使用之前需要执行特殊程序，包括几个步骤以确保电子束wan美对中。 在表I中，您可以看到扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）之间主要区别的总结。

结合SEM和TEM技术

还有一种电子显微镜技术被提及，它是透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的结合，即扫描透射电镜（STEM）。 如今，大多数透射电镜（TEM）可以切换到“STEM模式”，用户只需要改变其对准程序。 在扫描透射电镜（STEM）模式下，光束被精确聚焦并扫描样品区域（如SEM），而图像由透射电子产生（如TEM）。

在扫描透射电镜（STEM）模式下工作时，用户可以利用这两种技术的功能; 他们可以在高分辨率先看到样品的内部结构（甚至高于透射电镜TEM分辨率），但也可以使用其他信号，如X射线和电子能量损失谱。 这些信号可用于能量色散X射线光谱（EDX）和电子能量损失光谱（EELS）。  

当然，EDX能谱分析在扫描电镜（SEM）系统中也是常见分析方法，并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。

电子能量损失光谱（EELS）只能在以扫描透射电镜（STEM）模式工作的透射电镜（TEM）系统中实现，并能够反应材料的原子和化学成分，电子性质以及局部厚度测量。

在SEM和TEM之间做出选择

从所提到的一切来看，显然没有“更好”的技术; 这完全取决于需要的分析类型。 当用户想要从样品内部结构获得信息时，透射电镜（TEM）是zui佳的选择，而当需要样品表面信息时，扫描电镜（SEM）是shou选。 当然，主要决定因素是两个系统之间的巨大价格差异，以及易用性。 透射电镜（TEM）可以为用户提供更多的分辨能力和多功能性，但是它们比扫描电镜（SEM）更昂贵且体型较大，需要更多操作技巧和复杂的前期制样准备才能获得满意的结果。

关于作者

Antonis Nanakoudis

Antonis Nanakoudis是Phenom-World的应用工程师，后者是世界ling先的桌面扫描电子显微镜供应商。Antonis致力于拓展Phenom飞纳电镜在不同的领域的应用，并且不断地探索、创新更多的使用技巧。

（来源：复纳科学仪器（上海）有限公司）

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