仪器网（yiqi.com）欢迎您！

筛分分析方法*简单的也是应用*早的粒度分析方法是筛分法。但是，由于现今的标准筛*细一般只到400目，因此，对于小于10μm的超细粉体来说，不可能用标准筛进行粒度分析和检测。虽然新发展的电沉积筛网可以筛分小至5μm的粉体物料，但这种筛分技术由于筛分时间长和经常发生堵塞，很少在分析中使用。筛分分析是利用筛孔大小不同的一套筛子进行粒度分级。对于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用筛分法测定其粒度组成和粒度分布。

  筛分分析采用的套筛一般有两种：一种为非标准筛，实验室可以自己制造，用于筛分粗粒物料。筛孔大小一般为150，120，100，80，70，50，25，15，12，6，3，2，1(mm)等，根据需要确定。另一种为标准套筛，用于筛分细度物料，标准套筛是由一套筛孔大小有一定比例的、筛孔宽度和筛丝直径都是按标准制造的筛子组。上层筛子的筛孔大，下层筛子的筛孔小，另外还有一个上盖(防止试样在筛分的过程中损失)和筛底(用来直接接取*层筛子的筛下产物)。

  将标准筛按筛孔由大到小，从上到下排列起来，各个筛子所处的层位叫筛序；在叠好的筛序中，每两个相邻的筛孔尺寸之比叫筛比。有些标准筛有一个作为基准的筛子叫基筛，如泰勒标准筛以200目筛子作为基筛

颗粒度检测仪如何？

颗粒的大小叫做颗粒的粒度。度量颗粒大小的单位一般用微米或纳米，个别领域也用毫米。在粒度测试中通常用颗粒的直径（粒径）来描述颗粒的粒度。

由固体颗粒堆积而成的集合体叫粉体。固体颗粒是组成粉体的基本单元。

用特定方法测定的不同粒径区间内的颗粒占总量的百分数称为粒度分布。粒度分布有多种基准，如数量分布、长度分布、面积分布、体积分布、重量分布等。激光法的基准是体积分布，沉降法的基准是重量分布，电阻法的基准是数量分布。不同基准的粒度分布数值不同，理论上不同基准的粒度分布可以通过数学方法转换，但由于粉体形状千差万别，有时这种转换的误差较大

    纳米粒度和zeta电位的测试方法有很多种，粒度可以采用动态光散射原理、超声波衰减法、电镜等来做测试，zeta电位测试方法主要有相位分析光散射（PALS）法、电声法、流动电位法、显微电泳法等。每种方法都有其各自的优劣势。今天就动态光散射测试纳米粒度和相位分析光散射（PALS）法测试zeta电位做个介绍。

一、纳米粒度及zeta电位分析仪的应用领域：

随着科技的发展纳米粒度及zeta电位分析仪的应用领域很广泛，比如：医药、材料、锂电、涂料、化妆品、航天、环保等。在制造过程中的质量控制，可以采用在线纳米粒度仪，药物输送系统优化等；zeta电位的测试可以用来评价样品状态稳定性，化妆品和工业乳液稳定性研究；纳米颗粒制备和合成工艺优化，先进的胶体稳定性分析和优化，聚合物的表征。

今天小编以蔗糖铁溶液为案例，给大家简单介绍下动态光散射测试纳米粒度及相位分析光散射法测试zeta电位。

检测前准备

（1）样品展示：

蔗糖铁溶液主要为呈现深褐色，颜色比较深，对于zeta电位的测试是很有挑战的。粒度测试也有难度。这对于仪器的精度和技术有比较高的要求。

（2）分析仪器：动态光散射DLS纳米粒度及zeta电位分析仪 

型号：ZS 920

二、检测步骤：

通过之前的文章我们知道有流动电位法，流动电流法，显微电泳法，电泳光散射法等测量方法，其中流动电位法，流动电流法可以测量几乎所有尺寸的宏观固体表面上的zeta电位，特别适合于测量膜等大尺寸平面样品的zeta电位；显微电泳法，电泳光散射法适于测量胶体颗粒的zeta电位，我们的蔗糖铁溶液就是通过电泳光散射法来测量的。下面就是具体的检测步骤。

1）打开仪器后面的开关及电脑显示器。

2）打开操作软件，选择所要保存数据的文件夹

3）将待测溶液加入粒度样品池比色皿（水相用塑料，有机相用玻璃）中，插入样品槽，盖上仪器外盖。

4）设定测试参数

5）开始测量

6）数据分析

三、测试数据：

1）粒度测试结果展示

2. zeta电位测试结果展示

四、我们的优势：

梓梦科技的纳米粒度及zeta电位分析仪具有以下几点优势：

（1）高效的信噪比和抗干扰能力，它是利用光纤技术集成发射光路和接收光路，从而有效地提高了信噪比和抗干扰能力。

（2）先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。

（3）基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的测量精度。

（4）Henry函数的取值：使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.

（5）强大易用的控制软件；ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，具有符合21CFR Part11要求的软件，满足制药企业用户对数据管理的要求。

   如对动态光散射纳米粒度和zeta电位分析仪有更多疑问随时欢迎来电咨询。