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实验名称：基于MEMS工艺柔性基底磁通门传感器性能测试与分析

本文主要搭建了一套磁通门性能测试系统，主要测试设备有：信号发生器、功率放大器、磁强计、电流表、磁通门传感器、示波器等。

磁通门传感器测试系统：

激励信号由任意信号发生器33220A和功率放大器ATA-4011串联产生。任意信号发生器可产生正弦波、方波、三角波、锯齿波，也可以通过程序控制产生特殊形状的波形。功率放大器ATA-4011带宽可达到1MHz，ZD提供2.82App的电流值，满足测量需求。

为了测量激励电流有效值，在激励电路上串联一个电流表，当磁通门传感器作为磁场传感器时，被测磁场由直流电源激励一个螺线管产生，为了标定被测磁场的大小，在螺线管前串联一个电流表测试螺线管电流。

基于MEMS工艺的柔性基底磁通门磁场传感器

当磁通门作为电流传感器时，将柔性基底磁通门传感器粘贴在一个圆柱形的支撑骨架上，使柔性基底传感器铁芯两端紧挨以使磁路闭合，并将被测电流穿过支撑骨架ZX。被测电流用直流电源提供，并串联一个电流表用于标定被测电流值，在磁通门的感应线圈两端接示波器对输出信号进行分析。

基于MEMS工艺的柔性基底磁通门电流传感器

ATA-4011高压功率放大器产品介绍：

如需了解ATA-4011高压功率放大器详细产品资料欢迎访问安泰测试网。

超声导波检测技术与常规的无损检测方法相比，具有检测距离长，检测速度快等突出优点。超声波所用的激励源采用大功率信号源驱动激励的方法，放大并传播在管道中接收到的超声导波回波信号，利于缺陷检测的分析和处理。针对市场上常规信号源输出电压低,带负载能力弱,无法驱动超声波探头、换能器等大功率容性负载的实际问题，Aigtek推出了一种可输出大功率437W，频率DC-500KHz的功率放大器。

超声波是声波的一部分，是人耳听不见、频率高于20KHZ的声波，它和声波有共同之处，即都是由物质振动而产生的，并且只能在介质中传播。功率放大器是为超声换能器提供电能的关键部分，它主要用来激励压电超声换能器将功率放大器提供的电能转化为机械能。

超声激励源主要原理：

超声激励源实质上就是一个功率信号发生器，它产生一个与探头、换能器、压电陶瓷谐振频率一致的正弦波信号，经过功率放大器放大后，使得大功率电信号激励探头等产生机械振动，从而产生超声波。

ATA-4052功率放大器介绍：

ATA-4052是一款理想的可放大交、直流信号的单通道高压功率放大器。输出310Vp-p（±155V）电压，437W功率，可以驱动高压功率负载。电压增益数控可调，一键保存常用设置，为您提供了方便简洁的操作选择，可与主流的信号发生器配套使用，实现信号的放大。

基于Aigtek对功率放大器多年的测试研究，其主要产品优势：宽频带·高速·高电压、双极性、大功率。

ATA-1000的频带宽度为DC∼24MHz、上升速率为2000V/µs，即使对于上升迅速的脉冲信号和复杂波形信号也能够实现。

ATA-2000的频带宽度为DC∼1MHz、输出电压为1600Vp-p，即使对于有高压需求的压电元件和显示元器件，也能够富富有余地进行驱动。

ATA-3000的功率为810W，提供大功率的电磁场线圈驱动，同时所有的都能从直流开始输出的, 所以能够轻松实现信号发生器提供的任意波形的放大。

ATA-4000高压功率放大器输出功率为437W，频率宽度为DC-1MHz，可同时满足驱动高压大功率型负载，可双极性输出，匹配任意型号品牌的信号发生器并放大各种波形。

实验名称: 功率放大器基于超磁致伸缩换能器的CFRP板孔裂纹缺陷检测中的应用

研究方向：无损检测

测试目的：验证磁致伸缩换能器在CFRP板孔缺陷识别的有效性

测试设备: ATA-2021H功率放大器，信号源，示波器，换能器等

实验内容:对换能器施加扫频信号确定换能器的最佳工作频段，对换能器施加激励信号，利用超声导波检测CFRP孔缺陷，并进行信号处理，确定缺陷位置。

实验过程：

实验板材为CFRP材质，边长500mm,厚度2mm，通过信号发生器产生激励波形，通过功率放大器放大，磁致伸缩换能器产生高能超声信号，将PZT-5方形贴片用于信号采集，通过分析信号来判断导波信号中包含的缺陷信息。

实验结果：

（1）扫频可快速测试元件的频率特性， 通过产生不间断频率连续变化的信号，作用于换能器，获得不同频率下换能器的响应特性。由于超磁致伸缩材料其工作频率不超过100KHz,因此扫频范围为40-100kHz.激励端响应信号幅度随频率逐渐提升呈线性增大。扫频信号通过复合板传播后到达接收端，由图中课件在频率70,80,92kHz处，信号幅值为局部峰值，为换能器的相对优选激励频率。

（2）通过对信号进行短时傅里叶变换的得到的最终的缺陷云图。

放大器在该实验中发挥的效能:驱动换能器、激励超声导波信号

选择功率放大器ATA-2021H的原因:放大器可以很好的驱动电感线圈，给电感线圈施加稳态和瞬态电流。

实验中用到的功率放大器ATA-2021H参数指标：

最大输出电压200Vp-p（±100Vp，输出电流 500mAp，带宽（-3dB）高达DC~1MHz

本文实验素材由西安安泰整理发布，安泰功率放大器广泛应用于压电陶瓷驱动、超声波测试、声呐系统应用和MEMS测试等，可提供免费样机试用服务，如果想了解功率放大器更多应用，欢迎访问安泰测试网www.agitek.com.cn。

实验名称: 功率放大器基于超磁致伸缩换能器的CFRP板孔裂纹缺陷检测中的应用

研究方向：无损检测

测试目的：验证磁致伸缩换能器在CFRP板孔缺陷识别的有效性

测试设备: ATA-2021H功率放大器，信号源，示波器，换能器等

实验内容:对换能器施加扫频信号确定换能器的Z佳工作频段，对换能器施加激励信号，利用超声导波检测CFRP孔缺陷，并进行信号处理，确定缺陷位置。

实验过程：

实验板材为CFRP材质，边长500mm,厚度2mm，通过信号发生器产生激励波形，通过功率放大器放大，磁致伸缩换能器产生高能超声信号，将PZT-5方形贴片用于信号采集，通过分析信号来判断导波信号中包含的缺陷信息。

实验结果：

（1）扫频可快速测试元件的频率特性， 通过产生不间断频率连续变化的信号，作用于换能器，获得不同频率下换能器的响应特性。由于超磁致伸缩材料其工作频率不超过100KHz,因此扫频范围为40-100kHz.激励端响应信号幅度随频率逐渐提升呈线性增大。扫频信号通过复合板传播后到达接收端，由图中课件在频率70,80,92kHz处，信号幅值为局部峰值，为换能器的相对优选激励频率。

（2）通过对信号进行短时傅里叶变换的得到的Z终的缺陷云图。

放大器在该实验中发挥的效能:驱动换能器、激励超声导波信号

选择功率放大器ATA-2021H的原因:放大器可以很好的驱动电感线圈，给电感线圈施加稳态和瞬态电流。

实验中用到的功率放大器ATA-2021H参数指标：

Z大输出电压200Vp-p（±100Vp，输出电流 500mAp，带宽（-3dB）高达DC~1MHz

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实验名称：功率放大器ATA-4051在单信号激励的弯弯复合超声电机的正反向运动实验中的应用

研究方向：超声电机

测试目的：验证基于8字形振动轨迹的超声电机的工作原理的可行性

测试设备：函数信号发生器，ATA-4051功率放大器，激光位移传感器，激光转速计。

实验内容：用单路特殊激励信号（由频率比为1:2两个正弦波形叠加而成）驱动弯弯复合超声电机，测试其驱动足的运动轨迹和样机基本输出特性

实验过程:

（1）测试驱动足轨迹。用两个激光位移传感器分别对准驱动足的上表面和右表面，用函数信号放大器产生信号，经过功率放大器（ATA4051）放大后施加到超声电机上，打开传感器采集功能，完成振动轨迹采集。改变激励信号中两种信号的相位差，从0~360度范围内，每15度测试一次，共测24次。

实验装置

（2）测试输出特性。驱动足处放置一个小滑轮，侧面贴放光纸，拨动滑轮每转一周，观察转速计计数是否正常。之后用信号发生器和功放产生激励信号并施加到超声电机上，测试电机在不同波形（两种频率成分正弦的相位差）下的输出速度。

测试结果:

1. 驱动足处在波形相位差为165度和-15度时都可以获得8字型轨迹，轨迹的运动方向相反；

2. 所提出的基于8字型轨迹的超声电机，的正反向输出特性差异小于4%，推动直径为22mm转子运动时ZD输出速度为1373rpm；

3. 所提出的基于8字型轨迹的超声电机只需单向激励信号就能实现双向输出运动，压电元件无闲置，摩擦耦合效率高，在航空航天等高可靠性应用领域具有潜在应用价值。

轨迹运动测试结果

机械输出特性测试结果

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实验名称：垂向动磁式压电振动能量收集器建模及实验研究

研究方向：为了改善单悬臂梁压电能量收集器的性能

实验内容：

为了改善单悬臂梁压电能量收集器的性能，设计了一种垂向动磁式压电振动能量收集结构。针对该结构建立了集总参数压电耦合模型并进行数值仿真，同时搭建实验平台对结构性能进行评价。

测试设备：示波器、能量收集电路、信号发生器、功率放大器、电磁激振器、加速度计等。

实验过程：

实验平台的激励部分是由函数发生器、功率放大器和电磁激振器组成，实验中通过函数发生器调节频率进行向上扫频测试。测量部分由加速度测量及能量测量功能组成，加速度测量由加速度计及附加的信号调理器完成，加速度计固定在亚克力底座上，以对激励的加速度进行标定与测量。

压电材料通过导线与能量收集电路连接，电路中加入电阻作为负载，以方便对能量收集装置的性能进行测试。负载两端及IEPE加速度传感器的输出均直接接入示波器，直接记录系统输出电压及加速度情况。

实验结果：

（1）低频排斥与咼频吸引模式呈现咼峰宽频带特性，高频排斥与低频吸引呈现了双峰值特性，低频排斥模式更易于应用。

不同负载下的电压和功率曲线

（2）集总参数模型在可接受误差范围以内可以有效预测结构性质，幅值的预测误差小于7%,可以用于VMM-PVEH的设计与参数优化。

（3）在不同的磁感应强度下均存在zui优的磁铁距离值，随着磁感应强度的增大，zui优距离值变大，各zui优值下的峰值近似。

（4）在本文所述的zui优化参数条件下,系统峰值功率可提高42.7%，带宽可提高40. 6%。

如需了解功率放大器更多应用案例欢迎咨询安泰测试。

实验名称: 基于压电陶瓷的声光模式转换实验

研究方向：光纤模式

实验内容: 用高频高压信号驱动压电陶瓷振动光纤产生模式转换

测试目的：利用功率放大器对驱动电压的放大实现压电陶瓷的GX率振动

测试设备: 压电陶瓷

放大器型号: Aigtek: ATA-2022H

实验过程:

信号发生器产生的高频正弦信号（1 MHz 附近）通过高频电压放大器后，幅值（峰峰值）被放大到百伏左右，能够很好地驱动压电陶瓷片振动，产生我们所需要的高频有效振动实现模式转换实验。

测试结果：

信号发生器输出的信号电压幅值很低，对于压电陶瓷片的驱动能力弱，其振动效率很低，无法满足我们对于模式转换所需要的高频GX率振动。而加了高压功率放大器之后，驱动电压大幅增加，使得压电陶瓷片振动强度大，其产生的声光作用强，模式耦合实验结果理想。

安泰的功率放大器广泛应用于MEMS 实验、压电陶瓷、水声（换能器）磁性材料的磁化特性（B-H 曲线）测量以及YL领域（磁场生物效应）等众多领域。安泰免费为西安本地客户提供上门演示服务，为全国客户提供样机演示服务，如需了解更多，欢迎访问安泰测试网。

实验名称：功率放大器基于压电陶瓷的光纤声光移频实验中的应用

研究方向：光纤中声光效应

实验内容：用高频高压信号驱动压电陶瓷振动光纤产生声波，进而引起光的多普勒效应，产生移频分量。

测试目的：利用放大器对驱动电压的放大实现压电陶瓷的高效率振动， 驱动电压大幅增加，使得压电陶瓷片振动强度大，其增强的声光作用在光纤上产生有效的声波传输和多普勒频移。

测试设备: 压电陶瓷，耦合器，光纤光栅，PZT，功率放大器ATA-2022H等。

实验过程：

外差相干检测技术是基于探测光束和本振光束在探测器光敏面上混频实现，光外差相干检测可以响应光波的振幅、频率以及相位信息，适用于微弱信号的检测。提出了通过光纤中模式转换过程中的声光多普勒效应很好的实现了低频移量，并应用于振动探测。

基于模式选择耦合器（MSC）和 声致光纤光栅（AIFG） 制作了一 种光纤模式转换移频器（MCFS）。基本原理是通过光纤中LP11纤芯模式转换为基模的过程中，由于声光效应产生多普勒频移，可以直接得到一个 500kHz-1MHz的低频频移分量。并基于这种 MCFS 提出了两种外差相干检测方案，实现了光信息的相干检测与解调。实验中，采用ATA-2022H功率放大器对PZT进行放大，能够实现对高频PZT的有效驱动，放大倍数25倍，电压能够到100V，驱动频率到5MHz，能够很好的驱动PZT的高效振动，进而实现光纤上声波的传输，产生有效的光纤弯曲和对光波的多普勒效应。

测试结果：

全光纤FBG外差相干检测实验，使用MSC作为纤芯模式产生的器件，是因为全光纤结构的MSC不仅可以高效率地实现基模光束到高阶纤芯模式光束的转换，还可以利用SMF和FMF两个输出端消除SSBI，极大地提高外差相干检测的性能。

实验中将MSC的SMF输出端的光束称为探测光束，MSC的FMF输出端的光束称为本振光束，输出为LP11纤芯模式，通过光纤中声光效应产生光纤微弯曲形成动态长周期光栅，LP11纤芯模式在AIFG中转换回基模的同时，由于声光多普勒效应也会对转换回的基模有多普勒频移，频移量取决于光纤上施加的声波频率。实验图是基于MCFS和AIFG提出的全光纤外差相干检测方案图，通过3 dB单模光纤耦合器将MSC的SMF输出端和AIFG的FMF输出端连接起来，合成一束进入到光学示波器和频谱仪中测量其信号。

放大器在该实验中发挥的效能: 高频电压放大，驱动压电陶瓷产生声波振动增强，附加噪声小，移频量可控

您选择该放大器的原因: 放大效果好，能够增强光纤中声光效应

ATA-2022H功率放大器参数指标：

本文实验素材由西安安泰电子整理发布，西安安泰电子科技有限公司（Aigtek）是国内专业从事测量仪器研发、生产和销售的高科技企业。公司致力于功率放大器、计量校准产品、线束测试仪等产品为核心的相关行业测试解决方案的研究，为用户提供具有竞争力的测试方案，Aigtek 已经成为在业界拥有广泛产品线，且具有相当规模的仪器设备供应商，样机都支持免费shi用。如想了解更多实验方案，请持续关注安泰电子官网www.aigtek.com.cn。

高频MEMS测试

近期，某实验室咨询高频MEMS测试，需要实现正弦波和方波驱动，信号带宽高达7MHz，驱动电平需要达到50Vp-p，需要具备扫频功能和DC+AC工作模式，目前市面上的标准信号发生器输出电压低，电压小于10Vp-p带负载能力弱，输出电流是mA级别，无法解决高压大功率驱动问题。

如何解决高频MEMS测试问题

通过和客户技术交流，了解到高频MEMS核心器件主要是一种压电控制器件，主要是利用其压电效应和逆压电效应能够实现机械能与电能的转换,可以通过将压电控制器件在高频电信号的激励下产生高频振动,激发出超声波,可以通过压电控制器件接收超声波转换成电信号,从而实现超声信号转换。

高频MEMS驱动方式一般为激振荡式驱动，利用方波（或脉冲）振荡器来激励发声。高频MEMS主要工作在1MHz以上的频率上，电压需要30Vp-p左右，要求大输出功率，市场上常规的信号发生器输出电压低，带负载能力弱，功率放大器和信号发生器都需要具有高性能和高品质的输出波形：一方面是良好的稳定性能，输出波形失真小，并且信号发生器还需要能产生多种波形信号；另一方面是良好的动态性能，调幅调频方便，负载适应性好，此外有些测试除了需要信号发生器提供输出电压外，还需要功率输出。

针对以上测试问题，提供信号发生器+功率放大器+泰克示波器的测试方案，并为他们提供了现场演示。

测试方案

客户做测试实验需要的是高电压信号，方波，频率在7MHz左右，电压在70Vp-p左右。信号发生器和放大器推荐的是泰克的AFG3000系列加功率放大器，信号发生器输出电压幅度只有5Vp-p，接上功率放大器，输出电压达到了50Vpp，功率大10W，频率范围是DC-20MHz，具备扫频功能和DC+AC工作模式，具备单端输出和差分输出信号，输出阻抗可调整，可驱动各种阻性、容性、感性负载，完全满足驱动测试需求，功放输出信号直接加载到高频MEMS器件上面，同时使用泰克示波器进行整个链路信号分析测试。

扩展应用

信号发生器+功率放大器+泰克示波器测试方案还可以应用在压电陶瓷驱动、传感器测试、超声波换能器驱动和无损检测、电磁阀和继电器驱动、MEMS控制驱动、无线充电测试等。

总结

高频MEMS驱动测试要求

· 高电压、高带宽功率信息驱动各种高频MEMS器件。

· 多种功率和激励波形选择，可跟进应用需求进行定制。

· 具备扫频功能，AC+DC差分信号输出模式等驱动要求。

· 多通道组合，可以开展不同的测试选择。

· 精密数控增益，以及良好的幅频及相频特性要求。

· 输入输出阻抗匹配可调，配合用户信号源及负载（阻性、容性、感性负载）。

系统配置参考

西安安泰测试为西安本地客户提供免费样机支持及上门演示服务，为全国客户提供功率放大器样机SY服务，如需了解更多应用，欢迎咨询安泰测试网。

MEMS简介：

微机电系统（MEMS,Micro-Electro-Mechanical System），也叫做微电子机械系统、微系统、微机械等，是在微电子技术（半导体制造技术）基础上发展起来的，融合了光刻、腐蚀、薄膜、LIGA、硅微加工、非硅微加工和精密机械加工等技术制作的高科技电子机械器件。

微机电系统是集微传感器、微执行器、微机械结构、微电源微能源、信号处理和控制电路、高性能电子集成器件、接口、通信等于一体的微型器件或系统。MEMS是一项革命性的新技术，广泛应用于高新技术产业，是一项关系到国家的科技发展、经济繁荣和国防安全的关键技术。

MEMS侧重于超精密机械加工，涉及微电子、材料、力学、化学、机械学诸多学科领域。它的学科面涵盖微尺度下的力、电、光、磁、声、表面等物理、化学、机械学的各分支。

MEMS是一个独立的智能系统，可大批量生产，其系统尺寸在几毫米乃至更小，其内部结构一般在微米甚至纳米量级。常见的产品包括MEMS加速度计、MEMS麦克风、微马达、微泵、微振子、MEMS光学传感器、MEMS压力传感器、MEMS陀螺仪、MEMS湿度传感器、MEMS气体传感器等等以及它们的集成产品。

MEMS光栅应用测试：

MEMS光栅采用了硅微加工工艺技术，在外力作用下使光栅的某些特征参数（如周期、光栅等常数）发生改变，从而实时改变光栅的工作性能，实现光栅的可编程应用。基于其独特的优势，MEMS光栅已经用于光通信、高清显示设备、光谱分析等领域。MEMS光栅具有多种驱动方式，而静电驱动的 MEMS光栅，由于其工艺易于实现、耗能低、频率响应高，因此是常用的驱动方式。光栅光阀（GLV）和气体探测器（Polychromix）都是采用静电驱动的。静电驱动的可编程光栅还存在某些不足。静电驱动的能量密度较小，当结构需要比较大的工作位移（微米级），就必须增大驱动电压，驱动电压甚至达到上百伏。当结构受静电力作用，由于机械结构特有的惯性而产生弹性振荡，增大系统延迟。实际工作时，光栅等效电容会随光栅梁位移的改变而变化，导致驱动电路容性负载的变化。这些都为设计驱动电路带来困难。因此，MEMS光栅的工作性能很大程度上依赖于驱动放大器的性能。

MEMS测试功率放大器：

西安安泰电子科技有限公司生产的ATA-2000系列功率放大器提供了DC-1.5MHz的带宽，170Vpp~1600Vpp的输出电压范围，40mA~500mA的电流输出能力，是新型的MEMS相关应用的动态驱动研发测试的理想选择。

ATA-2000系列功率放大器，可以输出理想的单端及差分信号，为MEMS领域的研究提供了快捷的工具。同时该系列功率放大器，设计了良好的过压，过流，短路保护装置，同时为了更好的为MEMS测试客户应用，提供的完善的阻抗匹配网络，方便用户选择对应的匹配阻抗。

安泰ATA-2000系列功率放大器的增益数控可调，通过0.1的步进对于信号进行放大，方便用户调试。同时具有100:1的信号监控口，方便用户实时观测输出波形的变化。采用液晶显示，操作简单易懂。

如需申请样机SY或者现场演示欢迎访问安泰测试网。

　　气动磁通计测试工装案例分享－－－湖南省永逸科技有限公司根据客户样品需求定制磁通计测试工装，欢迎咨询！

气动磁通计测试工装和FE-210B数字磁通计高精度磁通计

FE-210B FLUXMETER数字磁通计

       旋变传感器的作用是检测转子位置信号，并把该信号转化为电信号传递，给控制器进行解码获得转子转速，旋变传感器由于适应性强，可靠性好，在电机中应用非常广泛，特别是在新能源汽车里面尤其多，随着第三代半导体的应用，在电机中所具有的高频噪声越来越多，如何准确观察到信号是否被干扰，如何盘底其噪声成分，以及如何处理就摆在了工程师们面前，那我们今天就来聊聊旋变传感器的噪声测试和分析。

那如何确定噪声是真的还是探头引入的呢？如下图：

       这是利用两种不同探头分别测试SIN和COS信号，从这张图上面大家可以看到C1和R1测到的信号明显要比C2和R2的信号更干净，这是因旋变信号由于其特殊位置导致其很容易受到电机复杂电磁环境的干扰，尤其是共模干扰，因为SIN和COS都是通过差分走线，所以差分的干扰很容易被消除，共模干扰不容易被消除，所以为了能够更真实的观察其共模干扰到底是不是真实存在的，就需要使用共模抑制比更高的探头来进行测试。

       差分探头的共模抑制比一般比单端探头好很多，但是不同的差分探头也不一样，那么我们比较以下两种差分探头的共模抑制比。

       从两张图中可以看到下面这个探头明显共模抑制比更高

       那在面对共模干扰问题比较大的环境的时候更能真实反映信号质量，而不需要去通过猜测来判断到底是探头问题还是信号本来的问题，那当我们知道信号有噪声的时候我们怎么知道噪声频率成分是什么样的呢？

       为了判断信号频率成分，一般大家想到的办法就是通过FFT来进行分析，但是FFT由于其原理限制，导致他会有天生的缺陷，比如分析频率范围只有采样率一半，频率分辨率受记录长度影响，这就导致我们在进行频域分析的时候需要将时间档位设置很大才能处理，如下图所示：

       从上图可以很明显的看到不同记录长度下的频率分辨率，记录长度越大，分辨率越高，这些影响因素会极大的提高了我们进行频域分析的难度，而目前最方便的方式就是在前端采集之后就进行数字下变频，然后进行正交转化。

       最终得到频谱，这样有三个好处：

       1. CF，SPAN，RBW都可以不受采集波形长度和采样率影响

       2. 可以进行时频域联调

       3. 可以进行调制域分析

       我们通过这个全新的方法来进行分析的效果如何呢，下面的截图大家可能就一目了然了。

通过上面的截图我们可以观察几个特殊的点：

       1. 同时观察两路的频谱

       2. 可以通过移动波形下方的黄色方框，来分析不同时刻的频谱，从而知道信号在不同状态下的噪声频谱状况

       3. 可以对调制信号进行解调

       一旦通过频谱分析找到了信号做具有的噪声成分之后，我们就可以利用示波器自带的滤波器对信号进行有针对性的滤除，这样就不需要工程师来实际搭建滤波器电路，就可以知道滤除效果，从而帮助工程师快速开发合适的滤波电路。具体实现有两种方式。

       第一种方式：利用软件生成滤波文件在示波器上面加载滤波文件，即可对信号进行滤波。

       第二种方式就是直接使用示波器自带的任意滤波器进行滤波，所以我们在做信号噪声分析的时候都可以采用以上三步来进行处理，

      1. 用合适探头观察到真实信号

      2. 利用SPECTRUM view进行信号解析，知道噪声成分

      3. 利用噪声成分设计合理的滤波器

       以上内容由普科科技PRBTEK整理，公司致力于示波器测试附件配件研发、生产、销售，涵盖产品包含电流探头、差分探头、高压探头、无源探头、电源纹波探头、柔性电流探头、近场探头、逻辑探头、功率探头和光探头等，满足客户多样化测试需求，库存充足，价格合理。详情访问官网www.prbtek.com 

（来源：苏州纽迈分析仪器股份有限公司）