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- 幸福大家庭6 2012-12-31 00:00:00
- 纳米粒子受表面效应和小尺寸效应的影响，导致粉体开始烧结温度比常规粉体低得多。纳米微粒由于其尺寸小，表面能高，比表面原子数多，不同粉体晶粒间的烧结所需的激活能比块体材料所需要小得多，压制成块材后的界面具有高能量，在烧结中高的界面能成为原子运动的驱动力，有利于见面中的空洞收缩，空位团湮灭。因此，在较低的温度下烧结就能达到致密化的目的，即烧结温度降低
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- 玩物丧志67 2011-12-20 00:00:00
- 烧结原理来讲，是低的，不需是同一种材料。
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- 蘑菇头De寂寞 2011-12-16 00:00:00
- 通常情况下是这样的，因为纳米粉体的比表面积大，活性更高，所以烧结温度比普通粉体的烧结温度也较低一些。
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- ArchLord2国服 2017-10-07 12:52:52
- 1、烧结温度高时，晶界移动速度过快，一些气体来不及排斥，被封闭在里边，所以陶瓷密度下降。 2、烧结机理：固态烧结（蒸发凝聚传质和扩散传质）、液相烧结（流动传质和溶解沉淀传质），一般出现液相会有助烧结，这就是加入矿化剂的原因。 3、液相烧结过程的速率与液相数量、液相性质（粘度和表面张力）、液相与固相的润湿程度、固相在液相中的溶解度等等有密切联系。 4、单从润湿的角度来看，如果不润湿的话，液相会有分开固相颗粒的力!
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- 不同烧结温度下Co对Ag-W复合粉体致密化行为的影响
【引言】
Ag-W复合材料具有优异的焊接性能、抗冲蚀性能和良好的导热性能，广泛应用于电接触领域。然而，这两种元素在复合材料中的粒径、形貌和分布都会影响材料的性能和特性。为了获得更好的性能，需要在Ag基体中均匀分布细小的W粒子。
【成果介绍】
本研究主要致力于制备结构均匀的Ag-W复合粉体。这涉及到用扫描电镜研究Co添加对粉末形貌的影响。采用共沉淀法，钨酸银中的Co以CoWO4的形式加入。首先，利用热重分析研究了这些粉末在较低还原温度下的还原行为。然后，根据所得的TGA数据，采用两步还原法，制备了大量的未掺杂Ag-W和共掺杂Ag-W粉末，用于后续的烧结实验。烧结试验在膨胀计（LINSEIS L75铂系列）中进行，在加热时测量试样的任何线性变化，并记录以供后续分析。研究中确定并采用的温度设定值为250℃-750℃和250℃-850℃。在这些温度下，用还原粉末制备的Ag-W压坯在银相熔点以下烧结，以避免Ag和W之间的任何偏析。Z后，利用TEM对烧结压坯的特性和致密化行为进行了研究和评估，以供接触应用。
图文案例
图1、钨酸银（Ag2WO4）的沉淀态
图2、掺CoWO4沉淀的Ag2WO4：（a）0.52%共掺钨酸银，（b）1.52%共掺钨酸银
图3、250℃-750℃下沉淀钨酸银还原银钨粉
图4、250℃-750℃掺杂钨酸盐还原1.52%共掺杂Ag-W粉体
图5、Co浓度对250-750℃下制备的Ag-W粉末粒度的影响
图6、两段还原法制备的Ag-W粉末在250-750℃和250-850℃温度下的压制特性
图7、在250-750°C和250-850°C温度下制备的共掺杂Ag-W粉末在300MPa压力下的压制特性
图8、250-750℃温度下（a）Ag-W和（b）0.30%共掺杂Ag-W压缩粉末的光学显微照片
图9、不同掺量Ag-W的粉末在900℃等温烧结5h后致密长度的变化
图10、900℃烧结共掺杂Ag-W样品5小时的典型显微照片：（a）0.14%共掺杂Ag-W，
（b）1.52%共掺杂Ag-W
图11、900℃烧结5h样品的典型TEM照片显示：（a）钨颗粒间的Ag-W基体和颈部形成；
（b）质量分数为0.51%C o的Ag-W，钨颗粒间的基体和颈部形成
【结论】
采用共沉淀法和两步还原法成功地制备出了均匀的Ag-W复合粉体，并通过压制和烧结工艺制备了电触头。添加的Co有助于促进银和钨之间的烧结，同时保持烧结产品中银和钨之间的高度均匀性。同时，我们还发现活化烧结时Co的临界值为0.3%（质量分数），与粉末的W含量有关。这个临界水平相当于钴对钨颗粒的六到七个原子层覆盖。此外，钴的添加量超过临界量时，会形成钨钴（WCo3）金属间化合物沉淀物，沉淀物被留在烧结复合材料的银相中。Z后，由于烧结体具有更好的抗冲蚀性和抗焊接性能，因此有望用于电接触应用。
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比表面积是单位质量物质的表面积（m2/g），它是超细粉体材料，特别是纳米粉体材料Z重要的物性之一，是用于评价他们的活性、吸附、催化等多种性能的重要物理属性。因此在各种超细粉体材料的研究、制造和应用过程中，测定其比表面积是十分重要的。随着超细粉体材料和纳米材料的迅猛发展，生产和应用各种超微氧化锌、氧化铝、碳酸钙、钴酸锂、锰酸锂、碳黑、石墨等几乎所有粉体材料的领域都需测定产品的比表面积，测定比表面积的仪器已成为许多研究单位、大专院校和工厂不可缺少的重要设备。
测定比表面积的方法繁多，如邓锡克隆发射法（Densichron Examination）、溴化十六烷基三甲基铵吸附法（CTAB）、电子显微镜测定法（Electronic Microscopic Examination）；着色强度法（Tint trength）、氮吸附测定法（NitrogenSurface Area）等。E. M. Nelson 通过各种方法比较认为低温氮吸附法是Z可靠、Z有效、Z经典的方法。美国ASTM、国际ISO 均已列入测试标准（D3037和ISO－4650），我国也把该方法列为国家标准（GB-10517）， 2003 年又列入了纳米粉体材料的检测标准。
氮吸附比表面仪是在气相色谱原理的基础上发展而成的。它是以氮气为吸附质，以氦气或氢气为载气,两种气体按一定比例混合，使达到指定的相对压力，然后流过粉体材料样品.当样品管放入液氮（－196℃）保温杯时，粉体材料对混合气中的氮气发生物理吸附，而载气不被吸附。这时在色谱工作站（气体传感器系统）出现一个吸附峰。当将液氮杯移走时粉体样品重新回到室温，被吸附的氮气就脱附出来，在工作站上即出现与吸附峰相反的脱附峰。吸附峰或脱附峰的面积大小正比于样品表面吸附的氮气的多少，也可认为是正比于粉体样品的表面积。取一个标样，比如已知比表面积的粉体材料，或已知容积的纯氮气，在工作站中得到一个标样峰，通过标准峰与待测样品脱附峰面积的对比，即可以Z终获得比表面积。（来源：贝士德仪器科技（北京）有限公司）
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