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科学服务领域的世界ling导者赛默飞世尓科技将亮相于11月21-25日在成都举办的“2020 年全国电子显微学学术年会”。 本次年会将是了解电子显微学及相关仪器技术的前沿发展，交流基础研究与应用研究新进展的高学术水平的大会。届时，赛默飞电镜业务部门将全面展示其在材料科学，生命科学，以及工业领域的前沿技术。我们的产品将以突破性的功能、GX稳定的操作体验展现赛默飞在先进电子显微学领域创新和研发硬实力。

午餐会，现场演示系列活动日程安排

提前报名的观众将可参与演示厅的现场抽奖，每场活动抽取5名幸运观众，获得电镜模型积木礼品一套。快快扫码报名吧！

地点：成都新希望高新皇冠假日酒店1楼香樟厅

电子束敏感材料（如金属有机骨架(MOFs)、分子筛、共价有机骨架(COFs)、杂化卤素钙钛矿等）极其诱人的性能取决于其独特的微观组织结构特征，在催化，能源等领域具有广阔的应用前景。

近年来，研究方法与现代实验技术的飞速进步，大大推动了电子束敏感材料的快速发展。如何在无损伤的条件下，实现对电子束敏感材料微观结构的精细表征成为了分析其反应机理、理解其性能的重要前提。

为促进电子束敏感材料的科学发展，重庆大学联合赛默飞世尔科技有限公司定于2022年3月24和25日举办电子束敏感材料表征研讨会。本次研讨会将全面解读使用冷冻聚焦离子束和低剂量透射电子显微成像技术揭示电子束敏感材料微观结构的研究进展及应用，并就这些前沿技术的推广应用进行探讨。

热忱欢迎从事电子束敏感材料科学研究与技术开发的专家、同行及在读研究生同学莅临本次盛会！

 会议主席 

韩宇 教授

沙特阿卜杜拉国王科技大学

 学术报告嘉宾 

 会议日程安排 

3月24日

学术邀请报告

重庆富力假日酒店

（重庆市沙坪坝区大学城南路26号）

3月25日

实验室上机演示

重庆大学 虎溪校区

 会议费用 

本次会议不收取任何费用，差旅住宿费自理

会议午晚餐统一安排

扫   码   ●   报   名

 会议联系人 

陈斌 187 0151 7836

bin.chen@thermofisher.com

展会邀请

第 20 届全国固态离子学会议暨新型能量储存与转换材料及技术国际论坛定于 2020 年 9 月 25 日 - 29 日在贵州省贵阳市举办。会议涵盖的主题包括：固态离子学基础理论及离子/混合导体、燃料电池、锂离子动力与储能电池、固态离子器件、传感器及应用、下一代电池及材料、固态离子学在新型能量转换材料与化工新技术领域的潜在应用等。

会议时间：2020 年 9 月 25 日 - 29 日

会议地点：ZG · 贵阳 贵州饭店

大会场展位号：12 号

分会场展位号：2 号

为什么要做锂电池清洁度分析？

在《锂离子电池正极材料的质量管理》中指出当正极材料中存在铁（Fe）、铜（Cu）、铬（Cr）、镍（Ni）、锌（Zn）、银（Ag）等金属杂质时，这些金属会先在正极氧化再到负极还原，当负极处的金属单质累积到一定程度，其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜，造成电池自放电。自放电对锂离子电池会造成致命的影响，因而从源头上防止金属异物的引入就显得格外重要。

现有杂质检测方法及其局限性?

在标准《GBT 33827-2017 锂电池用纳米负极材料中磁性物质含量的测定方法》指出，负 极材料中的杂质可通过电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测定。该测试方法需要将磁选出的杂质颗粒溶解到酸液中，并给出各个成分的含量均值。

该测试方法优势是元素含量的准确性很高，但也存在如下问题：

●无法定量杂质颗粒的形态和数量

●无法区分杂质颗粒的种类(如铁类、铜类)

因此，无法判定是哪个生产环节出了问题。

全新方案：ParticleX 锂电池清洁度分析系统

飞纳电镜会议报告

报告主题：

锂离子电池在实际应用中的清洁度分析与控制

报告时间：

2020 年 9 月 27 日下午 15:00-15:15

Phenom ParticleX 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。

采用逐个识别，逐个分析的工作方式，并可对异常颗粒回位复查，确保结果的准确性。

通过 ParticleX，可以获得如下结果：

●每个颗粒的形貌，尺寸，成分，以及分类

●各类颗粒的数量分布情况

该分析过程完全自动化，操作者只需把样品放进系统，点击开始按钮即可。

期待与各位专家学者技术人员面对面交流。

2023

赛默飞半导体解决方案研讨会

深圳站 · 邀请函

近年来，半导体技术的迅猛发展已经成为全 球科技领域的热点之一。然而，随着半导体技术的不断革新和应用的深入，半导体失效分析日益成为制约产业进一步发展的关键因素。

赛默飞世尔科技将于2023年4月26日在深圳举办2023年赛默飞半导体解决方案研讨会-深圳站。我们荣幸地邀请您参加本次半导体失效分析会议。本次研讨会我们将就晶片良率控制，先进封装，化合物半导体，显示面板等各类话题与大家一起探讨。

赛默飞世尔科技提供了多种高效率三维计量及失效分析工作流程的产品组合，可加速工艺开发、提高制程良率为集成电路设计和制造提供坚实的基础。

会议时间

2023年4月26日 星期三

会议地点

深圳湾万丽酒店3F宴会厅

会议地址

深圳市南山区科技南路18号

提前报名注册

抢占坐席，现场领取精美礼品

演讲嘉宾

依次帮你解锁必看清单

展台

如果您是技术咖，肯定不能错过

●材料科学

●生命科学

●2D/3D软件

●人事招聘

现场应用培训

11月21日周六，大会报到当天

上午，TEM培训

下午，SDB培训

现场演示

11月22日-24日，大会期间

每天定时将有我们热门电镜的远程演示

●冷冻电镜

●透射电镜

●双束激光电镜

以上活动报名方式请关注我们公众号的发布

新品发布

11月23日周一中午

新一代扫描电镜揭幕

冷冻电镜系列新品

作为科学服务领域的世界ling导者，赛默飞世尔科技（以下简称：赛默飞）于2020年11月21日~25日在成都举办的全国电子显微学学术年会期间，推出了一系列线上线下同步的推广活动；为庆祝ZG电镜学会成立40周年，响应大会主题“显微学激发新希望”，赛默飞一直坚持不懈在材料科学和生命科学领域推出新品，助力电镜科研。

大会DY天，赛默飞材料与结构分析电镜业务高级商务总监Marc Peeters介绍了从我们ZX推出的远程服务，到上海新落成的纳米港电镜ZX，从我们持续提供的培训和线上活动，到我们在今年电镜年会上推出的新品及培训和演示，一直致力于帮我们的客户让世界更健康，更清洁，更安全。

在显微学理论、技术与仪器发展分会场，赛默飞ZSTEM专家-牟新亮博士带来了“极 致的TEM表征艺术：Spectra与Hydra的梦幻二重奏”主题报告。赛默飞全新的球差电镜平台Spectra以及基于Helios 5的全新双束平台Helios Hydra，两者分别代表了目前电子显微表征与样品制备的zui高水准。

作为赛默飞在其透射电镜商业化70周年之际推出的高端平台，Spectra融合了目前几乎所有zui先进的透射电镜技术，搭配其全新的高稳定性设计，Spectra在全电压范围(30-300kV) 的空间分辨率都做到了突破性的进步，其直接图像的ZG分辨率更是做到了创纪录的39pm。

Helios Hydra则是在Helios 5基础上发展出来的全新双束平台，它完全摒弃了传统的Ga离子源，开创性地采用了Xe、Ar、N、O等气体作为离子源，彻底避免了样品Ga离子注入的问题。配合其基于Helios 5的JD电子光学与离子光学系统，以及ZX的AutoTEM 5全自动样品制备模块，而且可以针对不同样品采用不同离子源，Helios Hydra真正做到了GX率、低损伤、全自动的样品制备。Hydra与Spectra两者结合，更是能够让你毫不费力地在全电压范围内，在样品最干净、最真实的状态下，获得目前最清晰、最通透的电子显微镜表征结果。

在低温电子显微学表征分会场，赛默飞生命科学电镜业务拓展经理-张坤博士汇报了赛默飞冷冻电镜的ZX进展：真正的原子分辨率时代。冷冻电子显微镜已经成为结构生物学的重要前沿技术。得益于ZX的Thermo Scientific Selectris 和Selectris X成像过滤器，冷冻电子显微镜提升到新的水平，实现了以真正的原子级分辨率观察蛋白质。张博士介绍了Selectris成像过滤器的技术细节，并全面展示ZX实验结果。

赛默飞两种突破性成像过滤器Selectris成像过滤器和Selectris X成像过滤器，将冷冻电子显微镜（简称冷冻电镜）提升到新的水平，实现了以真正的原子级分辨率观察蛋白质。与Thermo Scientific Krios或Thermo Scientific Glacios冷冻透射电子显微镜 (TEM) 相结合，Selectris过滤器使生物学家在更短的时间内观察到蛋白质结构中前所未有的细节，从而加快结构分析研究。

上周，赛默飞电镜网络讲堂系列圆满落幕，感谢众多老铁们的观看及提问。赛默飞电镜演示微直播仍在火热进行，未来我们还会推出更多系列的网络讲堂，请您持续关注！

“TEMGX高质量扫描透射成像”直播答疑汇总

Q：Smart Tilt这个功能大概是哪年开始有的？转角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。装机工程师做简单的校准后，用户只需要使用配套的双倾样品杆，按演示的操作即可，非常简便。

Q：TEM mode下不断改放大倍数会把CCD烧了吗？

这次演示的TEM操作是在Talos配备的荧光屏相机上进行的，具有高动态范围，对于透射图像、衍射花样和菊池线都可以直接观察。

Q：这次演示的Velox是什么版本？框选放大功能是哪个版本有的？

这次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框选放大等功能。Velox还在持续保持更新，只要用户的TEM Server版本支持即可自行免费升级。

Q：没有球差还能看到原子像？这么厉害？

Talos F200X的STEM分辨率验收指标为0.16nm，实际使用时分辨率会优于此数值，Talos上也可以拍出硅[110]带轴的哑铃结构（硅哑铃原子间距0.14nm）。

Q：为什么用钛酸锶，是容易看吗？

在钛酸锶[100]带轴上是可以看到原子像的，钛和锶两种原子在HAADF上有比较好的衬度差异，同时也可以通过Z新iDPC技术获取HAADF下没办法实现的氧原子位置的表征，能够直观地给大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用调Ronchigram了吗？

Talos上调Ronchigram不是必须的，系统稳定性很好，可以直接调用STEM光路文件。日常使用也可以用我们演示的AutoSTEM功能自动调整象散。只有在状态比较差的情况下才需要检查Ronchigram。

赛默飞分析科学实验室解决方案

2022全国巡演

— 锂电专 题（常州站） —

会议通知

随着锂电行业的逐渐成熟和不断快速增长，与锂电池材料相关的分析检测也逐渐成为热点。在此背景下，赛默飞主办本次锂电专 题会议，希望通过本次会议，推动新能源与电池制造行业的持续进步和高质量发展。为全国相关检测技术实验室，锂电相关企业人员提供学习和了解该领域知识并搭建一个学习空间和交流平台。

会议安排

会议时间

2022年11月18日13:00签到

会议地点

江南明都国际酒店三楼江南厅

            （常州市金坛区汇金路228号）

日程安排

报告前瞻

陈丰

苏州科技大学研究生院副院长

分享内容：锂电池电极材料有价金属的成分分析与智能回收

王维彬

赛默飞行业特邀嘉宾

分享内容：“双碳”背景下锂电行业发展前景与趋势

报名方式

识别上方二维码，立即报名

防疫政策

低风险地区：双码绿色+24小时核酸阴性报告

中高风险地区人员，原则上不参会

会议联系人

杨凯悦 13816819249  

kaiyue.yang@thermofisher.com

2023年赛默飞X射线光电子能谱学苑

成都站

- 圆满举办 -

随着我国材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面分析技术在过去的几十年中有了长足进步，在科学研究领域的作用日益增长。

为了有效推动表面分析应用技术的发展，深入了解光电子能谱技术的仪器性能特点，充分发挥已购仪器在教学科研生产工作中的作用，2023年度赛默飞X射线光电子能谱学苑 · 成都站于2023年5月23日在西南交通大学分析测试中心圆满举办。

活动伊始，首先由西南交通大学分析测试中心的卫飞飞主任，以及赛默飞全国XPS产品销售经理罗抒女士进行了开场致辞。

卫主任对本期学苑的顺利开班表示热烈的祝贺，并向参加本次活动的与会者表示了诚挚的欢迎和感谢，然后为我们进一步介绍了西南交通大学分析测试中心的历史发展。罗抒经理则着重就赛默飞公司XPS产品的全方位解决方案作了详细的介绍。

西南交通大学分析测试中心卫飞飞主任

赛默飞全国XPS产品销售经理罗抒女士

本期学苑特别邀请了中山大学测试中心谢方艳老师、中国科学技术大学理化科学实验中心姜志全老师、赛默飞应用专家孙文武、赛默飞售后工程师李建为大家带来精彩报告。嘉宾们分别就各自的研究领域从不同的专 题详细进行了分享：

中山大学谢方艳老师首先为我们分享了《UPS应用和谱图分析》，从UPS的原理、实验注意事项、前沿应用实例等方面做了深入浅出的讲解。

赛默飞应用专家孙文武针对XPS数据分析技巧进行了讲解分享。通过“三步法”思路，结合赛默飞XPS分析软件Avantage，可助力用户快速上手搞定XPS数据分析。

中国科学技术大学姜志全老师报告主题为《XPS样品制备和谱图分析》，涵盖XPS测试样品的制备、XPS数据处理、XPS谱图分析等。内容详实，干货满满。

赛默飞售后工程师李建则从XPS仪器的维护保养角度出发，结合实际案例详细讲解了赛默飞各型号XPS设备的维护保养及日常使用注意事项。帮忙用户加深对设备构造的理解，提升设备维护方面的技能。

本次线下共有50余位分别来自企业和高校的XPS使用者及师生参加，现场气氛热烈，互动频繁。并由谢方艳老师和姜志全老师依次为与会者颁发活动结业证书。同时我们进行的线上同步直播，观看人数累计超过200人次。

2023年度X射线光电子能谱学苑的更多场次

期待与您的下一次再会！

上周，diyi季赛默飞电镜演示系列微直播圆满收官，感谢各位老铁们的追捧。四月我们推出了新一期网络讲堂，请您持续关注！

“FIB之GX新一代双束电镜”直播答疑汇总

Q：这样大束流的切割，对离子镜筒有没有伤害？

Ga离子双束电镜是微区切割，去除的材料都是微观级别，因此对镜筒没有伤害。Ga离子束的工作距离较大，距离工作区较远，切割材料进入离子束镜筒概率很低。

Q：硅材料，离子束Z大可以用多少nA切？

对于Ga离子双束电镜，Z大可以使用65~100nA的束流进行切割，对于Thermofisher的Xe+ PlasmaFIB双束电镜来说，是可以使用Z大2.5μA的电流进行切割。具体使用的电流大小需要根据切割目标尺寸进行调整。

Q：磁性材料可以切吗？

磁性材料是可以切割，唯yi需要注意的是如果材料是否是磁性材料以及材料是否已经被磁化是两个层面的问题。若只是磁性材料，而该材料尚未被磁化，则切割不受影响；若该样品已经是磁化状态，其自身磁场会对切割以及观察造成一定程度的影响，这是物理规律决定（该磁场对带电粒子，包括电子和离子，都会产生影响），若磁场不强则可以进行切割，若磁场较强则考虑是否能够退磁后切割和观测。

Q：现在用的4系列能升级吗？

Helios G4 UC 和Helios G4 UX可以升级至Auto TEM 5。需要支付升级费用。

Q：请问flash是标配吗？

目前在Helios5系列电镜是标准配置。

Q：钙钛矿电池截面有做过这个FIB切割嘛？有什么难点嘛？

钙钛矿电池也可以做。难点在于钙钛矿电池有多层结构，并且材料性能差异较大，不同材料适合不同的切割参数，需要根据经验选择合适的样品制备参数 。

Q：Easylift有什么特色？优劣？

Easylift 为赛默飞自己产品，其操作完全嵌入在电镜的UI 界面，不需要依靠任何第三方的软件，因此操作更加简单便捷，样品制备效率和成功率更高；并且Easylift的稳定性更好，可以确保Easylift 在插入和拔出时针尖无漂移，实现可靠的自动化样品制备。AutoTEM 自动化TEM样品制备软件只支持Easylift。

Q：Scios平面切和截面切Z主要的提取方法的不同在哪？

提取方法大同小异，焊接在Cu网时角度相差90度。

Q：如果是要特殊位置，比如切一个特定particle可以实现么，比如100nm的圆形颗粒？

AutoTEM5 支持定位切割，若希望定位精度较高，建议在thinning过程中开启SEM进行实时监测以进一步保证成功率。

错过直播不用愁

扫码获得回放视频观看链接

昨天，“TEM快速准确的成分分析”微直播受到了众多老铁们的追捧及提问。明天周五，还有一场“FIB之GX新一代双束电镜” 微直播等待大家；四月我们还会推出更多系列的网络讲堂，请您持续关注！

“TEM快速准确的成分分析”直播答疑汇总

Q：Velox可以进行能谱基线校准吗？

在电镜的安装调试阶段，会由安装工程师使用专用软件对谱线峰位进行校准。

Q：扣背底的参数可以自己调整吗？

在Velox自动完成扣背底之后，可以在Integrated Spectra上进行手动调整，包括背底模型、背底窗口等参数。

Q：没有Fe等杂峰信号是Talos的特殊设计么？之前的TF20就很高。

Tecnai系列使用侧插能谱，受制于能谱安装方向和样品倾转角，会有较多的镜筒干扰信号。Super-X距离样品较近，且探头直接朝向样品，很少会采集到来自于镜筒和极靴的X射线信号，显著降低了干扰信号的接收，能够获得目前市面上Z干净的能谱。电镜镜筒内实测的峰背比至少超过4000。

Q：请问哪里有关于四种STEM探头特性的介绍？四个探头同时使用与单个探头使用相比，图像采集时间是否增加？

Talos 采用的四个STEM成像探头同轴安装于相机上方，能够通过Velox软件同时采集并实现漂移校正（DCFI）功能。不同的探头接收不同收集角的信号，从而获得环形暗场（ADF）、环形明场（ABF）以及明场（BF）图像的采集。此外，调整相机长度可以改变探头的接受角范围，实现不同类型图像信息的采集，例如用同一个探头可以分别获取ABF和ADF图像。四个探头具备独立的信号通道，数据可以同时采集处理，与单个探头使用相同参数设置相比，图像采集时间没有显著差别。

Q：Velox的能谱数据如何导出原始数据，比如每个像素的计数，以便后期用其他软件读取处理？

Velox处理好的数据可以直接输出tif、mrc等图像文件和csv等数据文件。Velox的能谱原始数据使用了HyperSpy数据流格式保存，可以用相应的软件查看。

Q：样品测量前已经知道样品中包含的元素吗？还是通过相互作用判断出是什么元素？

此次直播演示的样品，预先有初步的元素信息。当然也可以利用电镜中的能谱，通过电子与样品核外电子相互作用产生对应于元素的特征能量X射线，来判断元素种类。由于TEM是一种在极小尺度上进行采样表征的工具，微纳尺度元素分布情况和宏观有时会有出入，因此在TEM测试前如对样品中包含元素情况有基本的了解，会更容易进行元素分析。

Q：样品厚度怎么测量？

样品厚度的测量在TEM中有两种常用的方法，一种是通过电子能量损失谱（EELS），另一种是利用汇聚束电子衍射（CBED）花样进行分析。

Q：如果样品倾转了这个吸收矫正还可以用么？四个能谱探头一起定量？

样品倾转后的吸收校正在Talos电镜中可以实现。Velox软件中的吸收校正模型综合考虑了样品倾转情形下样品杆和探头的几何分布，能够处理遮挡、吸收等因素造成的四个探头收集信号不一致等影响，提高定量准确度。这是其他电镜的能谱探头及软件所不能够实现的。

Q：这个定量计算对样品有什么要求吗？

严格的EDS谱定量计算需要考虑样品厚度、密度等多种因素。Velox软件可对多种定量相关参数进行设置，以便获得更加准确的定量结果。

Q：前处理和后处理有区别吗？

前处理Pre-filter基于每个像素的能谱原始数据进行处理，能够获得更加准确可靠的定量结果，计算量较大，需要对分析相关知识和样品情况有一定的了解；后处理Post-filter是对软件获得的面扫结果进行图像处理，简单易用，消耗计算资源很少。

Q：采集一组EDS Tomography数据需要多少时间？

具体的采集时间与实验条件和需求有很大关系， 可以根据需求设置单张EDS Mapping的采集时间，并根据角度范围进行估算。

Q：B扫不出来怎么解决？

B由于是较轻元素，相对重元素来说信号产生量低很多，较低含量情况中在EDS采集中比较难以获得。在Velox软件中，可以通过Super-X采集模式的设置，使用High Resolution模式进行优化。

Q：做EDX时，如果要提高FEG的电流，Talos上如何操作？极限电流可以到多少？探头的dead time 会饱和吗？

Talos 200X配备了特有的X-FEG高亮场发射枪，在保证束斑尺寸和分辨率相同的前提下能够获得更高的束斑电流。在操作上，减小Gun Lens、减小Spot Size，使用更大的聚光镜光阑都可以获得更高的束流。极限束流能达到几十nA。Super-X具有极高的速度，Z高通量超过800 kcps，在正常使用中基本不会出现饱和情况。

错过直播不用愁

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周三，赛默飞首次电镜演示微直播之TEMGX高质量扫描透射成像圆满落幕，感谢众多老铁们的观看及提问，赛默飞电镜演示微直播还在火热进行，请您持续关注！

直播答疑汇总

Q：Smart Tilt这个功能大概是哪年开始有的？转角度有什么要求？

Smart Tilt是2016年推出的。装机工程师做简单的校准后，用户只需要使用配套的双倾样品杆，按演示的操作即可，非常简便。

Q：TEM mode下不断改放大倍数会把CCD烧了吗？

这次演示的TEM操作是在Talos配备的荧光屏相机上进行的，具有高动态范围，对于透射图像、衍射花样和菊池线都可以直接观察。

Q：这次演示的Velox是什么版本？框选放大功能是哪个版本有的？

这次用的是Z新的Velox 2.11。2.10版本加入了框选放大等功能。Velox还在持续保持更新，只要用户的TEM Server版本支持即可自行免费升级。

Q：没有球差还能看到原子像？这么厉害？

Talos F200X的STEM分辨率验收指标为0.16nm，实际使用时分辨率会优于此数值，Talos上也可以拍出硅[110]带轴的哑铃结构（硅哑铃原子间距0.14nm）。

Q：为什么用钛酸锶，是容易看吗？

在钛酸锶[100]带轴上是可以看到原子像的，钛和锶两种原子在HAADF上有比较好的衬度差异，同时也可以通过Z新iDPC技术获取HAADF下没办法实现的氧原子位置的表征，能够直观地给大家展示Talos的性能。

Q：做STEM都不用调Ronchigram了吗？

Talos上调Ronchigram不是必须的，系统稳定性很好，可以直接调用STEM光路文件。日常使用也可以用我们演示的AutoSTEM功能自动调整象散。只有在状态比较差的情况下才需要检查Ronchigram。

私信主编的老铁们请注意  

错过直播不用愁

直播视频回放，可扫码观看

ZG金属学会炼钢分会将于 2020 年 11 月召开“第 22 届（2020年）全国炼钢学术会议”。会议主题为“基础研究、技术开发和工程应用携手，探索钢铁工业智能化和绿色化协同”。

会议时间：2020 年 11 月 11 日 - 13 日

会议地点：广东 · 湛江 · 皇冠假日酒店

生产高品质洁净钢对钢中非金属夹杂物分析的要求：

由于钢中非金属夹杂物的危害，生产高品质洁净钢已成为钢铁行业发展的趋势，生产洁净钢的关键在于对非金属夹杂物的有效控制，控制杂质的关键就在于准确、快速和全面地检测夹杂物的尺寸、形貌和组成，并且对几千个甚至上万个夹杂物的大量数据进行全自动的统计和冶金分析。冶金工程师和炼钢部门只有通过及时地获取直观易懂的夹杂物分析数据报告，才能对炼钢工艺过程中的非金属夹杂物进行有效的控制，从而保证高品质钢的稳定生产。

在各种夹杂物分析技术中，目前国内外公认的最准确和可靠的方法是使用全自动一体化的快速夹杂物分析仪对夹杂物进行检测分析。Aspex 系列产品因其独有的全自动集成一体化的快速夹杂物分析和报告功能在钢铁行业得到了广泛认可，并且已有大量文献报道该技术在钢铁生产中的各种成功案例。2019 年，Aspex 系列产品升级到ZX型号 Phenom Particle X。

01 为什么 ParticleX 的结果可信度更高？

传统基于帧的数据收集方法，在同一区域使用多重的扫描来全面表征任何观察到的夹杂物。该过程需要几毫秒的时间，而这个大的时间间隔会导致电子束漂移，从而影响结果的准确性和精度。

与传统的等待全帧捕捉的方法不同，ParticleX 分析仪在收集 EDX 使用专有的动态电子束控制和复杂特征算法（CFA），以及特征锁定技术。如下图所示，通过在粗栅格中移动光束，来搜索检查每步中观察到的图像亮度。一 旦来自给定步的特征亮度超过检测阈值，动态电子束控制接管并开始使用复杂特征算法（CFA）确定观察到的夹杂 物的大小和形状。

在确定样品的大小和形状后，ParticleX 分析仪使用 EDX 技术获取用于夹杂物分类的组分 X 射线光谱。EDX 采集可能需要几百毫秒，通过与成像扫描一起进行此任务，得到的数据更准确，信号丢失和电子束漂移的可能性更小。CFA 和 EDX 算法使 ParticleX 成为夹杂物分析、过程控制和优化应用的理想解决方案。

02 使用 Phenom Particle X 可以获得的结果

1) 大量夹杂物的形貌，尺寸，成分，以及分类

2) 大量夹杂物的形貌，尺寸，成分，以及分类

3) 不同种类夹杂物的数量及成分信息（均值）

4) 将所有夹杂物的组成分布体现在自定义的三元分布图

03 Phenom ParticleX 在钢铁行业的部分用户

我们将携 Phenom ParticleX 至会议现场

欢迎大家携带样品，与飞纳电镜探讨全自动一体化钢中非金属夹杂物分析系统 Phenom ParticleX 的应用

欢迎来自世界各地的表面分析用户加入我们于10月15日16:00举办的Ignite Surface Analysis网络研讨会，本次研讨会将邀请到多位顶 尖表面分析专家，与您分享他们的ZX想法和研究成果，以帮助您控制产品质量、改进失效分析方法，以及实现科研的突破。

随着人们对高性能材料需求的增加，表面分析技术的重要性也随之增加。材料表面是样品和环境发生相互作用的位置，因此，只有了解材料表面或界面处发生的物理和化学相互作用，才能解决与现代材料相关的许多问题，诸如腐蚀速率、催化活性、粘合性能、润湿性、接触电势和失效机理等。表面改性技术可用于改变或改善这些特性，因此，表面分析技术对于了解材料的表面化学性质以及研究表面改性，材料失效机理或开发新器件非常重要。

快来加入我们与专家一起：

1 加深您对表面分析的了解

2 突破生产力和创新的界限

3 学习可靠的实验工具和可复制的解决方案，以简化和加速您的工作流程

此次研讨会还特设“Ask the applications team”圆桌讨论环节。您对如何进行表面分析实验或如何处理数据有疑问吗？您想知道如何为一个复杂的样本建立实验流程吗？千万不要错过向我们的科学家寻求帮助的机会！从XPS分析的基础知识到PCA分析等高级处理，包括ISS、REELS和UPS等相关技术，我们的专家将在研讨会上提供答案！

研讨会日程：北京时间 10月15日

报名方式

报名后请关注邮件通知，系统将自动发送观看方式。

赛默飞XPS系列产品

现在就注册，在线参与我们的网络研讨会吧！

随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面分析技术在过去的几十年中有了长足进步，在科学研究领域作用日益增长；于此同时，随着X射线光电子能谱仪的普及，广大客户对XPS设备应用培训的需求也日益增加。

由于今年突发疫情，受疫情影响，不能去到客户现场展开应用培训工作，使很多客户不能得到及时有效的现场应用培训服务。为了满足广大客户应用培训的需求，让客户深入了解光电子能谱技术的仪器性能特点，充分发挥已购仪器在教学科研生产工作中的作用，提高广大表面分析用户的分析测试水平，充分发挥仪器的功效，赛默飞将组织公司XPS应用专家，在上海Demo实验室为广大客户展开现场应用培训，欢迎有应用培训需求的客户报名参加。

一．课程简介： 

本应用培训班旨在使学员熟悉仪器结构、XPS的原理、应用等方面的知识，提升软件操作、数据分析、仪器维护等方面的能力。在培训班上，通过上机操作、理论培训、案例分享等方式，提高学员仪器操作、数据分析和图谱解析的能力，提升学员XPS理论和实践水平，助力日后的科研工作。由于本课程需要一定的理论及实践基础，有一定仪器使用经验的用户报名本培训班效果ZJ。 

2020年度现场应用培训班拟开班2期，每期招生5-8人，采用线上自主报名，满员即可开班。根据学员应用培训需求，定制相关培训内容。

二. 授课内容： 

本培训班有全方位的应用培训课程，学员可根据自身需求，选择相关培训内容。应用培训课程如下：

三. 授课团队： 

本应用培训将组织赛默飞应用专家来展开培训，培训应用专家团队如下表所示：

四. 日程安排： 

2020年度XPS应用培训日程安排如下：

五. 费用说明： 

该培训可使用仪器销售合同中购买的应用培训名额；差旅食宿费需客户自理。 

六. 注意事项： 

1. 学员自行承担往返交通费及培训期间食宿费；交通、酒店均需学员自行预订（我们会在详细通知中提供周边酒店信息供学员参考）。

2. 本培训谢绝旁听；学员不可带未成年人一同前往，请理解和配合。

3. 请携带好身份证，以便门禁登记。

4. 本XPS培训班通知函会提前制作并盖章，培训结束后学员可直接带回。如XPS培训班通知函不满足贵单位报销要求，请收到培训邀请函后自行编辑打印出符合贵单位格式的培训通知函，可提前寄给相关工作人员，工作人员会给贵单位材料申请盖章。

5. 如果报名后因其它原因不能来参加XPS培训班的学员，请至少提前2星期通知相关联系人，以免影响其他学员在线占座报名，临时取消，则名额作废。

如您对此次培训班相关情况及培训内容仍有任何问题或疑问，请联系如下联系人：

葛青亲 albert.ge@thermofisher.com;  13774363530

孙文武 wenwu.sun@thermofisher.com; 18501718273

史南南 nannan.shi@thermofisher.com；15600380072

为保证培训效果，每次培训人数5~8人，欢迎有意参加本培训班的学员提前来电报名或给我们留言，席位有限，报名从速！

额满后通知学员开班信息。