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检车过程中有哪些因素会导致结果偏差

妖妖sajora 2017-08-11 01:33:42 304  浏览
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  • pqe013 2017-08-12 00:00:00
    在材料力学中拉伸试验结果产生的误差原因有哪些拉伸试验是在对金属材料产品质量进行检测和评定过程中使用的Z广泛的实验。但是,有很多因素都可以影响拉伸试验的结果,只有明确了具体的影响因素,才能针对这些影响因素进行具体分析。根据研究分析结果制定实验相关操作规定和试验流程,才能保证实验结果的真实性和精确性。 取样以及试样制备对实验结果的影响 1.1.取样部位的影响 从金属材料的不同位置取样获得的实验样本,其力学性能往往存在一些差异,例如圆钢40mm其ZX处的抗拉强度低于1/4处的抗拉强度,且断后拉伸率也存在差别,可见取样部位对实验结果有着不可忽视的影响。由于金属材料在铸造形成、加工过程中,成分、内部组织结构、冶金缺陷、加工变形分布不均,因此使得同一批,甚至同一产品的不同部位的力学性能出现了差异。因此在取样时应严格按标准进行,以避免实验结果出现偏差造成误判。 1.2.取样方向的影响 取样方向的差异会直接影响金属材料拉伸试验的断后伸长率、屈服强度以及抗拉强度等各项性能指标,尤其是断后伸长率受到的影响更大。若采取横向取样,则依照有关标准,试验之后的断后伸长率则不能够达标。通常垂直于轧制方向,则金属力学性能则可能不达标;平行于轧制方向,则金属力学性能良好。 1.3.试样的形状、尺寸的影响 同一材料同一状态的金属材料,如果截面形状不同,测得的结果对屈服强度中的上屈服强度ReH影响大,对下屈服强度ReH影响小。矩形试样的工作长度部分的对称度,圆形试件的工作部分轴线与夹头部分的轴线不同心,都会在拉伸时产生偏心力,产生附加弯曲应力,使强度和伸长率均降低。 试样的尺寸的大小对试验结果的影响是,同一材料同一状态的金属材料试样,大横截面积(大尺寸)的试样的抗拉强度较小尺寸的低,而且塑性指标也下降。 1.4.试样制备方法的影响 切取样坯时必须防止因受热、加工硬化及变形而影响其力学性能。切取样坯时应留有足够的机加工余量,一般应不少于钢材直径和厚度,但Z小不少于20mm,这样机加工试样时,可以把受热或冷加工硬化的部分完全去除掉,以免影响性能的测定。从样坯机加工成试样,一般通过车、铣、刨、磨等机加工,但车削、切削和磨削的深度和走刀速度及润滑冷却均应适当,以防止发生因受热或冷加工硬化而影响材料的性能。 2.实验设备和测试仪器对实验结果的影响 2.1.试验设备 试验机与引伸计是金属材料拉伸试验中常用的两种试验设备。其中,前者主要用来向试件施加作用力,同时测量作用力数值;后者主要用来进行位移或者延伸的测定。以上两种试验设备将会直接影响试验结果数值的准确信和真实性。所以,试验时必须要确保试验机与引伸计在检定合格的有效期之内。另外,需要注意的是,如果试样加偏、加歪、试样弯曲、不平直等都是引起受力不同轴的因素,进而影响测量结果。 2.2.测量仪器方面 尺寸测量仪和量具是在金属材料拉伸试验过程当中Z为常用的测量仪器,要求这些测量仪器的精度必须符合试验要求。其中,对测量准确度影响Z大的因素主要是量具分辨力;除此之外,测量时的压力值、量具砧面污染以及量具零点等因素也会试验时的数量测量精度产生影响。所以,在进行试验之前,必须要对各种测量仪器进行校验,同时保持量具的清洁干净。 3.夹持方法对实验结果的影响 拉伸试验检测中夹持方法非常重要,如果试样夹不住,试验则无法进行;如果加持方法不合理,则会实验结果出现较大误差。在进行拉伸试验时,常出现试样常因应力集中而断在加持部分或标距外的过渡区,导致实验失败的现象。试验机的加载轴线应与试样的几何ZX一致,如果不一致,会造成偏心加载而产生弯曲。一般不允许对试样施加偏心力,因为力的偏心容易使试验力与试样轴线产生明显偏移;拉伸夹具选用不当会使试样产生附加弯曲应力,从而使结果产生误差,同时拉伸夹具选用不当也极易引起拉伸试样打滑或断在钳口内,导致实验数据不准确或实验数据偏低。总之,加载系统、试样几何形状尺寸以及非均质试样都可能引起偏心加载,要尽量减少这些偏心效应。 4.试验环境温度对实验结果的影响 即使是普通的金属材料,实验环境的温度不同实验结果也不尽相同,尤其是一些温度敏感性较高的金属材料,受温度的影响更为明显。通常情况下,温度越高,则金属材料的强度性能指标则越低,同时塑性性能指标越高。所以,如果金属材料对温度敏感,则需要利用温度系数进行修正。对于常规试验而言,试验时的环境温度应该控制在10℃~35℃之间。在该环境温度下,如果采用高精度传感器或者金属材料特殊,则需要认真考虑温度因素,如果需要,则应该进行必要的修正。 5.人为因素对实验结果的影响 在拉伸试验中试样的横截面积非常关键,但是在一些产品的标准说明上会明确规定其拉伸的试验横截面积,并且要按照名义尺寸的横截面积规定要求。在产品的标准当中如果没有特殊的规定,就必须要遵循国家标准要求,对其实际尺寸进行测量。但是如果都是按照名义的尺寸去计算其横截面积,所测试的得出的结果则会受到一定的影响,甚至把合格强度的测为不合格的,存在把不合格测定为合格的情况。 且拉伸试样时必须要按照直径的大小来选择外径的千分尺以及游标卡尺等。一旦应用的测量方法不够jing准,则会影响到人为的尺寸在进行测量时出偏大,甚至给强度测试出现偏低的测量结果。如果当量具的测量面和试样轴线出现垂直时,所测量得到的结果就是 d1>d0。在实际操作光圆拉伸试验中,外径以及在薄板的矩形拉伸试样,由于外径千分尺测量同一圈就0.5mm,如果不注意的话就很容易看错一圈,将外径千分尺测量时的数据读成0.5mm,这就造成测量结果不准确的现象。通常如果操作的技术以及在主观因素下出现不同情况时,则会给测量的结果造成一定的误差。即使在相同条件下,由不同人员进行拉伸试验操作,实验结果多少也存在一些差异。 总结: 以上总结的五方面不同因素对于金属材料拉伸试验检测结果的影响是不同的。在实际检测中为了确保实验数据的准确,必须尽量减小各种因素的影响。因此要针对各种影响因素制定各种操作流程规定,保证试验方法正确。

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哪些因素会影响到数字示波器的测量结果呢

数字示波器相对于模拟示波器来说有很多明显的优势。数字示波器可以采样、数字化和存储波形,帮助你测量、分析和存档信号。但采样过程也会带来一些问题。比如混叠、同步采样和插值器错误就会让你错误理解测量结果,因此了解这些问题可以避免我们在使用过程中产生错误。

混叠

一个信号的采样率必须超过该信号中所包含的Z大频率的两倍。如果信号被正确采样,示波器就可以从样本中重建这个信号,不会损失任何信息。在欠采样情况下,或者说采样率小于信号Z高频率分量两倍时,恢复出来的信号会含有低于原始信号的频率成分,这种不想要的信号被称为混叠信号。采样率的一半被称为奈奎斯特频率,代表了可以按这个采样率数字化的信号Z高频率。

图1是信号混叠的一个例子。左侧上面的波形是一个以1GSamples/s速率采样的400MHz正弦波。左侧从上往下数第2张图是水平方向放大了的信号,从中可以看到每个周期有2个样本数。值得注意的是这是没有经过插值的原始采样数据。左侧第3张图显示的是经过Sin(x)/x插值后的信号。这是大多数数字示波器显示的结果,因为这是它们默认的显示插值器。


图1:当一个400MHz信号被欠采样时,它会丢失信号保真度并发生混叠现象。

左侧Z下面一张图是输入信号的快速傅里叶变换(FFT)结果,显示了信号的频谱或频域图。图中显示400MHz点有个频谱峰值,与这个信号的频域特性相符。

右侧Z上面那个波形是以500Msamples/s速率采样的同一400MHz正弦波。采样率低于信号频率的两倍,因此信号会出现混叠。右侧从上往下数第2张图是混叠后信号的放大图。注意,信号频率变低了,在这个例子中频率100MHz。再下面一张图是应用了插值的混叠后信号,混叠后信号的FFT结果中有一个100MHz的频率峰值。需要注意的是,FFT曲线在250MHz频率点(即500MS/s采样速率的奈奎斯特频率点)被截尾了。

因为图1不是动图,因此混叠后的波形看起来似乎有一个稳定的触发信号,实际上并没有。触发电平被设为0V,正的斜率和非混叠波形展示了正确的触发电平。混叠后的波形每隔一个非混叠波形采样点才有一个采样点,会在与触发点相邻的样本点之间跳跃。这将生成具有水平“抖动”特性的曲线。

研究混叠现象的Z佳方法是在频域中进行观察。采样与模拟混频过程非常相似,本质上是将被采样的波形与采样时钟相乘,后者通常是一个很窄的脉冲。采样时钟具有非常丰富的谐波分量,采样/混频过程产生的频率分量包含被采样的原始基带信号、采样时钟及其所有谐波、以及与每个采样时钟谐波有关的被采样信号上边带和下边带映像,如图2中的上半部分所示。

 

图2:在频域中观察到的采样过程,同时展示了正确的采样和混叠的采样。

基带信号分量接近典型数字示波器的频率响应。带宽一般规定在响应图形的“膝部”,在带宽极限以上是快速衰减的“滚降”响应。因为有可能存在超过示波器带宽的频谱分量,因此大多数制造商设定的采样率是带宽的2.5倍或以上,以防止从这个区域产生混叠的分量。

降低采样率会将频谱中的采样频率分量及其所有谐波分量移动到频域显示图的左边。当采样频率的较低边带分量与基带信号交叉时将发生混叠现象,如图的下半部分所示。一旦频谱分量发生重叠, 就不再可能通过对结果波形滤波恢复出原始的基带信号。

示波器设计师通常会尝试多种方法来限制混叠。首先,他们会选择一个比要求的Z小过采样频率高得多的Z大采样频率,一般是奈奎斯特频率的3至20倍。其次他们会增加采集内存的长度,这样即使采集时间很长,采样率也可以很高。在选择一款数字示波器时,你应该知道要进行信号采集的Z大时长,然后选择一款具有足够内存的仪器来支持信号的带宽所要求的采样率。

图3显示了采集内存长度如何影响示波器的采样率。这张图表明采样率是示波器的时间/格设置值的函数,采集内存长度是其中一个参数。本例中的示波器具有20Gsamples/s的Z大采样率和1GHz的带宽。只要采样率高于2Gsamples/s,采集的数据就是有效的。如果采样率降至2Gsamples/s或以下,数据可能就不正确了。随着时间/格设置值的增加,采样率仍保持在Z大20Gsamples/s,直到所有采集内存被占满。过了这个点,采样率就开始下降。因此对于10ksamples的采集内存长度,采样率会在50ns/格时下降到2Gsamples/s。当内存长度为100ksamples时,采样率在下降到2Gsamples/s之前可以达到5μs/格。随着采集内存的增加,采样率可以在更高的时间/格设置值保持在关键的2Gsamples/s之上。因此采集内存越大,混叠现象就越不容易发生。

 

图3:1GHz带宽、采样率为20Gsamples/s的示波器的采样率与时间/格设置值关系图。注意,一旦采样率降到2Gsamples/s或以下,示波器将产生1GHz的混叠信号。

在操作数字示波器时,你应该从较快扫描速度—小时间/格设置值开始,以检测和避免混叠。这样做可以达到Z高的采样率。当你增加时间/格设置值时,留意波形的变化。如果发生混叠,波形频率会突然下降;当混叠现象发生时频率下降会很显著。如果遇到混叠,看看能否通过增加采集内存深度来提高采样率。

同步采样

如果采样时钟与信号同步或接近同步,那么采样点每次都在(或靠近)相同的相位。随着信号的重复,相同部分的信号被采样。这在每个周期只有几个采样点时Z明显。只要采样率超过奈奎斯特极限,这样就没有问题,但示波器显示内容看起来会有点奇怪,信号似乎被调制过了,见图4。

 

图4:如果采样率是信号频率的倍数,那么每个周期的采样点都在(或靠近)相同的相位点,因而显示出来的图形看起来像是调制过的一样。

对这个399.9MHz正弦波的采样速率是1GS/s,信号频率逐渐增加,直到发生错误调制。左波形C1是完整采集的波形,看起来像是经过了调制。“调制”频率约为500kHz(周期为2μs)。然而它并不是真正的幅度调制。左边从上往下数第二个波形Z1是水平放大了的曲线,有一个历史显示内容覆盖在上面。这次采集使用了线性插值。黄色的放大波形显示的是单个周期的被采集波形。注意,采样位置用点加以标记。每个周期有2个样本(两个输入信号周期内有5个样本)。放大位置被显示为采集曲线上的高亮区域。

存留曲线显示了多次采集的历史,我们可以看到随着时间的推移,采样点连起来就是一条平滑的正弦波。没有足够的采样点“绘出”完整的波形形状,现有样本基本上是锁相的,因此在相邻周期内会重复相同的相位点。样本缓慢地沿采集的波形移动,填满显示器,正如存留历史中见到的那样。这样,采集的波形是正确的,但显示波形看起来像是调制过的,因为每个周期的样本数有限,而且在输入信号和采样时钟之间几乎是锁相状态。

左边从上往下数第三条曲线是输入信号的FFT结果,ZX频率是399.9MHz,缩放因子是1MHz/格。注意在载波两侧都没有500kHz的调制边带。这就表明其并不是幅度调制。

通过提高每个周期的样本数可以改善显示效果。一种方法是改变显示插值器。图4中的波形使用了线性插值器。Sine(x)/x和线性插值是将波形上采集的采样点连接在一起的两种方法。若信号是一种频带受限的波形(也就是说,如果波形中没有频率分量超过奈奎斯特频率—采样率的一半),那么应用Sine(x)/x插值和高质量算法可以精确地重建频率是0.25至0.4倍采样率的波形形状和幅度。在我们这个例子中,输入频率是1GS/s采样率的0.399倍。图4右边上面的曲线C2是使用Sin(x)/x插值采集的相同信号,它表明Sin(x)/x插值器能改善但不能校正显示效果。

右边从上往下数第二个波形是使用了Sin(x)/x插值器的相同输入信号的放大图。从波形可以看出,交替周期有不同的峰峰幅度。这种插值器很麻烦,因为每个周期的样本数很少。示波器提供用户可配置的插值函数作为其数学函数的一部分。图中的对话框显示了对曲线C1操作的这个插值函数的设置,曲线C1是用线性插值采集的。插值函数的输出显示在右边从上往下数第三格。再下面是这条曲线的放大图。注意“更强大的”插值器函数消除了上述问题。通过提高采样率并在采集的波形上得到足够的样本数来填充整个波形也可以改善显示效果。正如我们在前面见过的那样, 对于每格的给定时间,可以通过增加采集内存的容量来提高采样率。再次重申一下,这种“调制”效应不是错误。所有示波器的测量函数都会反映正确的幅度, 因为就像存留显示信息一样它们基于的是统计方法。不过这仍然很容易造成人们困惑。

吉布斯耳朵:如何学会不去相信插值器

Sin(x)/x插值法非常适合正弦波。遗憾的是,我们遇到的许多信号事实上是数字信号,看起来像是矩形脉冲。如果信号具有“快速变化的”边沿,边沿上几乎没有样本,那么Sin(x)/x插值器就可能造成问题,如图5所示,该图把示波器的插值器响应比作是具有快速边沿的矩形脉冲。上面的轨迹曲线是线性插值器的响应,下面是同一信号在水平方向的放大图。从上往下数第三个轨迹线是Sin(x)/x插值器的响应,下方是放大了的信号。

 

图5:将线性插值器和Sin(x)/x插值器的响应比作矩形脉冲上的快速边沿揭示了测量具有快速边沿的信号时存在的问题。

线性插值器将样本和一条直线连接在一起。即使边沿只有一个样本,波形上也没有明显的前冲或过冲迹象。Sin(x)/x插值器无法在边沿安插样本以改善有明显过冲和不太明显前冲的波形。这些现象被称为吉布斯的耳朵,可能促使人们为了保证信号完整性而去寻找不存在过冲的根源。如果你观察到脉冲波形上的前冲或过冲,应该将显示插值器改为线性插值器,看这些现象是否会消失。

总之,建议是对脉冲类型的波形使用线性插值器,它能防止出现这种情况,而将Sin(x)/x插值器留给正弦信号。如果波形边沿有较多的样本,你就可以较大程度地减轻这类问题。保持高的采样率有助于防止出现吉布斯耳朵。

小结

遵循以下操作指南养成好习惯,就能有效避免这些问题的出现:

1、尽量使采样率达到实际可行的高值;

2、在分析不熟悉的信号时,先用小的时间/格控制设置,确保高的采样率,然后增加时间/格的值,同时观察信号何时开始出现混叠现象;

3、如果波形出现意外的调制现象,水平放大波形可以显示采样位置。将显示器设为在存留功能打开的情况下观察波形曲线,并覆盖在的曲线上( 如图4所示)。如果显示的样本不重叠,那么在存留显示屏上会显示峰和谷,它们不会随着周期的改变而改变位置,这意味着你可能在同步于信号频率的条件下进行采样;

4、如果你使用Sin(x)/x插值法观察到脉冲类波形上存在前冲和过冲现象,那就用线性插值法试试看这些现象是否会消失。

以上的内容希望对大家在使用数字示波器时有所帮助,如果还有什么需要了解的欢迎咨询安泰测试网。


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