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  旧城的旧人er 2009-03-07 00:00:00

  OPTOTOP是一套快捷GX的，非接触式光学表面测量系统。它能在纳米，微米，及大尺寸下进行光学形貌及几何测量。 优势： ◆方便舒适的操作 ◆快速的数据提取 ◆多样性测量方法，完全的交互式操作 ◆2D形态下的微粗糙度值（表面粗糙及缺陷） ◆特定区域内，具方向性的粗糙度值（组织，纹理分析） ◆2D，3D以及深度剖面的形貌描述 应用范围： ◆光滑面，粗糙面，曲面的表面粗糙度分析 ◆大尺寸计算，微几何形态描述，及平坦度控制 ◆表面控制，例如：滚筒模 ◆应用领域包括：研发，品质生产控制，验收检验，及损坏分析 技术规格： 传感器：彩色共焦 Z大测量频率：100HZ／300HZ（1kHZ） 测量范围Z：300mm／1mm／2mm Z大行程XY：60mmⅹ60mm 解析度Z：12nm／25nm／75nm 速率：0.1bis 10mm／s 侧向解析度：1.55mm／2mm／4mm 平台尺寸：165ⅹ165mm 测量长度：11mm／12.7mm／16.4mm 电脑，软件，显示器：LCD 17″

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  bnf56 2016-05-23 00:00:00

  非接触表面微观形貌(粗糙度)测量仪，系统采用TRIMOSZL技术数字全息三维显微测量技术(DHM)，广泛应用于高精密微观表面检查。与传统非接触测量技术相比，测量速度快，对震动不敏感，真正的实现三维形貌纳米级测量。模块化的设计理念，可配置共焦显微系统， 探针测量系统，传感器直接更换，方便快捷，极大的满足了不同的应用范围。 即可用于计量单位和材料科学研发实验室，也广泛应用在工业制造领域：汽车、航天、航空、表面涂层、YL产品、微型电机系统、半导体等行业。

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