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X荧光光谱仪技术原理？

X荧光光谱仪主要用途

X荧光光谱仪的优缺点

 X荧光硫元素分析仪是为了适应油品中硫含量检测需要而开发制造的X荧光分析仪。它采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040和GB 11140的相关要求,也符合美国国家标准D 4294-03的要求,它为原油或石油化工生产过程中硫含量的检测,提供了帮助。

荧光硫测定仪采用“紫外荧光法”测定原理。当样品被引入高温裂解炉后，经氧化裂解，其中的硫定量地转化为二氧化硫，反应气经干燥脱水后进入荧光室。在荧光室中，部分二氧化硫受紫外光照后转化为激发态的二氧化硫（SO2*）,当SO2*跃迁到基态时发射出光子，光电子信号由光电倍增管接收放大。再经放大器放大，计算机数据处理，即可以转换为光强度成正比的电信号。在一定条件下反应中产生的荧光强度SO2*与二氧化硫的生成量成正比，二氧化硫的量又与样品中的总硫含量成正比，故可以通过测定荧光强度来测定样品中的总硫含量。分析样品前，需要先用标样校正曲线，在相同条件下再分析样品，程序自动依据标样校正曲线计算出样品的硫含量。