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FAMT 2022

Failure Analysis & Material Testing

失效分析和材料测试会议

7月22日Fraunhofer IISB和Park原子力显微镜将联合在德国举办第二届失效分析和材料测试会议（FAMT 2022)，本次会议将会在线上和线下同时举行。本次会议聚集了电子行业的专业人士，讨论纳米级的创新测试方法和未来物理故障分析的工具。

具体活动时间

日期：2022/7/22

北京时间14:00-21:00

线上ZOOM会议（免费注册后将发送ZOOM会议链接到您的邮箱）

线下地址：Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, Erlangen, Germany德国埃尔朗根  

01.

邀请嘉宾｜CONFERENCE

Dr. Dongchul Ihm

韩国三星电子 

报告题目：用于先进半导体制造的 SPM 应用

Dr. Jürgen Leib

德国Fraunhofer IISB

报告题目：功率半导体的寿命测试——电气和热机械评估

Nicholas Antoniou

美国PrimeNano公司

报告题目：用于电子材料 FA 和表征的扫描微波阻抗显微镜 (sMIM)

Alexander Klasen

Park Systems （Park原子力显微镜）

报告题目：显微镜的“瑞士军 刀”- 原子力显微镜作为一种多功能工具，可在纳米范围内对电子和机械特性进行成像

Dr. Albert Minj

比利时imec

报告题目：启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件

Prof. Silke Christiansen

德国弗劳恩霍夫陶瓷技术和系统研究所 (Fraunhofer IKTS)

报告题目：用于推进半导体器件的背景显微镜和光谱学——通过 nanoGPS 技术与大量其他分析技术相关联的导电 AFM

Derek Nowak, Ph.D.

美国Molecular Vista

报告题目：使用 Nano-IR PiFM 对亚 20 nm 缺陷进行化学鉴定

Nicholas Randall

瑞士Alemnis AG

报告题目：用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最 新创新

02.

日程安排｜CONFERENCE

北京时间下午

14:00 - 14:15 欢迎致辞

Tobias Erlbacher (德国弗劳恩霍夫集成系统与器件技术研究所 IISB 半导体器件部门负责人)

分享嘉宾：

三星半导体 Dr. Dongchul Ihm

14:20 - 14:45 

用于先进半导体制造的 SPM 应用

分享嘉宾：

比利时imec Dr. Albert Minj

14:50 - 15:15 启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件

分享嘉宾：Prof. Silke Christiansen

15:20 - 15:45 用于推进半导体器件的背景显微镜和光谱学——通过 nanoGPS 技术与大量其他分析技术相关联的导电 AFM

15:50 - 16:00    Discussion Panel

分享嘉宾：

Park原子力显微镜 

Alexander Klasen

16:20 - 16:45 

显微镜的“瑞士军 刀”- 原子力显微镜作为一种多功能工具，可在纳米范围内对电子和机械特性进行成像

分享嘉宾：

Dr. Jürgen Leib

16:50 - 17:15 功率半导体的寿命测试——电气和热机械评估

分享嘉宾：

Nicholas Randall

17:20 - 17:45 用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最 新创新

17:50 - 18:10       Discussion Panel

北京时间晚上

分享嘉宾：美国Molecular Vista Derek Nowak, Ph.D

18:20 - 18:45 使用 Nano-IR PiFM 对亚 20 nm 缺陷进行化学鉴定

分享嘉宾：美国PrimeNano Inc.

Nicholas Antoniou

18:50 - 19:15 用于半导体失效分析的扫描电子显微镜 (SEM) 原位机械测试的最 新创新

03.  报名方式｜CONFERENCE

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