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近日，华中地区高校首台飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）正式通过验收，交付使用！该台仪器（PHI nano TOF 3）由武汉理工大学材料复合新技术国家重 点实验室麦立强教授团队于2021年底采购，历经波折于困难的2022疫情之年年底到货，近日完成安装调试，通过验收。

PHI 工程师正在对武汉理工大学的老师进行培训

麦立强，男，

·博士生导师，首席教授

·国家“杰出青年基金”获得者

·长江学者特聘教授

·国家重 点研发计划“纳米科技”重 点专项总体专家组成员

·国家万人计划领军人才

·武汉理工大学材料科学与工程学院院长

主要研究工作及科技成果：

长期从事新能源材料与器件科学技术及应用研究，在Nature（3篇）、Science（1篇）等刊物发表SCI论文555篇，其中以第 一或通讯作者发表Nature 2篇、Nature子刊及Cell子刊20篇，SCI他引1000次以上1篇、800次以上3篇、400次以上18篇，高被引论文103篇，热点论文21篇，SCI总他引44363次，撰写中文专著2部、英文专著/章节3部，参编《中国材料科学2035发展战略》1部。获国家自然科学二等奖（序1，2019）、何梁何利奖（2020）和国际电化学能源大会卓 越研究奖（2018，每年仅2人），入选英国皇 家化学会会士（2018）、中国微米纳米技术学会会士（2022）、中国化学会会士（2023）、科睿唯安全 球高被引科学家（2019-2022）、爱思唯尔“中国高被引学者”（2021-2022）和英国皇 家化学会中国“高被引学者”（2021）。

飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 简称ToF-SIMS），使用一次脉冲离子轰击固体材料表面，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量，以表征材料表面的元素成分、分子结构、分子键接等信息。

 · 可以分析所有的导体，半导体，绝缘材料

 · TOF-SIMS的分析深度2nm左右，横向空间分辨率可达50nm,

 · 能表征原子和分子组分，适用于有机和无机物的分析

 · 能测试所有元素（H~U）及其同位素

 · 能鉴别高质量数的有机大分子

 · 探测灵敏度很高，可以达到ppb量级

 · 2D和3D表征成分的分布：对于材料表面成分及分布，表面多层结构/镀膜成分，表面异物残留(污染物、颗粒物、腐蚀物等)，表面痕量掺杂，表面改性，表面缺陷（划痕、凸起等）等有很好的表征能力。

TOF-SIMS被广泛应用于各种材料开发，材料剖析，多层薄膜/结构剖析与失效机理的分析和研究，具有不可替代的作用。

研发领域：能源电池材料、半导体器件、纳米器件、生物医药、量子结构等

高新技术：高分子材料、金属、半导体、玻璃陶瓷、纳米镀层、纸张、薄膜、纤维等

ULVAC-PHI 的 TOF-SIMS自推出以来，搭载三重离子束聚焦质量分析器(TRIFT)的Nano TOF系列已成为全 球广受欢迎的高性能飞行时间二次离子质谱仪。PHI nano TOF 3采用全新的外观设计，外观与性能双重提升！配备ULVAC-PHI最 新一代液态金属离子枪，可实现优于50nm的高空间分辨率，配合独 家专 利的TRIFT分析器，可实现宽带通能量、宽立体接受角的高灵敏度质谱分析。该系列飞行时间二次离子质谱得到了中国广大用户的青睐，如新能源行业领域的比亚迪弗迪电池、天目湖先进储能技术研究院有限公司、宁德时代（CATL）；半导体领域的东莞新科、湖北新为光、先导稀材；微电子和OLED行业的华星光电（CSOT）、京东方（BOE）、天马微电子（TIANMA）、维信诺（Visionox）；以及多学科综合的北京理工大学、中科院兰州化物所、清华大学深圳研究生院、中科院上海光机所、复旦大学、西湖大学、东南大学、吉林大学、长安大学等。

我们PHI CHINA（高德英特（北京）科技有限公司）非常期待该台设备能够助力麦立强教授团队在相关科研领域取得更大的成就！我们将以最 好的服务和最专业的技术支持为我们每一个用户提供帮助，欢迎感兴趣的老师垂询该设备！