仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-直播- 视频

资讯中心

当前位置:仪器网> 资讯中心>2012年布鲁克原子力显微镜西安用户研讨会圆满召开

2012年布鲁克原子力显微镜西安用户研讨会圆满召开

来源:上海科学仪器有限公司      分类:商机 2012-10-13 22:08:00 598阅读次数
2012年9月27日,德国布鲁克纳米表面仪器部原子力显微镜西安用户研讨会在西安交通大学圆满召开。会议得到了西安各高校、研究所的积极响应及到会参与。

布鲁克公司纳米表面仪器部亚太区销售总监时晓明先生对布鲁克公司以及布鲁克纳米表面仪器部的发展历程和产品特色,做了精彩的阐述。随后布鲁克纳米表面仪器部ZG区应用科学家仇登利博士何龙飞博士针对布鲁克Zxin研发的自动优化全智能扫描模式、纳米尺度定量机械性能测试模式、峰值力隧道电流显微术、AFM-Raman联用、针尖增强拉曼、AFM快速扫描技术、生物型快速扫描原子力显微镜等产品和技术进行了详细而专业的讲解,这些内容将加深广大AFM用户对原子力显微镜强大功能和广泛用途的认识,大大提高用户在仪器使用、操作、结果分析上的熟练掌握程度。此外,布鲁克客户服务ZX主管孙昊博士,还为大家详细讲解了布鲁克纳米表面仪器部在ZG强大的售后服务资源,布鲁克ZG维修ZX也将于2012年10月11日在北京正式成立,提供专业及时的电话咨询、测试、维修、培训等服务。

ZT报告结束后,为各位老师和同学安排了充裕的答疑和现场测试时间。基于不同领域和研究方向对于仪器的实际操作需要,布鲁克工程师们与广大原子力显微镜、光学轮廓仪和摩擦磨损测试设备使用者就仪器的操作技巧、数据处理、常见问题分析等展开了热烈的讨论。

本次技术交流会得到了用户的广泛好评,通过面对面的交流畅谈,解疑答惑,用户对布鲁克纳米表面仪器部在技术、应用、服务及管理等方面给予了更多的信赖。客户对本次交流会的ZT报告和现场仪器演示给予高度评价,希望类似的技术研讨会议能经常举办。通过技术交流会,我们有机会更好地了解客户实际操作过程中存在的各种问题及客户对仪器的切实需求,促进仪器功能的持续创新,以及为用户提供更好更完善的客户服务。


布鲁克公司纳米表面仪器部
作为表面观测和测量技术的,布鲁克公司纳米表面仪器部提供世界上Z完整的原子力显微镜、三维非接触式光学形貌仪、探针式表面轮廓仪以及摩擦磨损测试系列产品。布鲁克公司纳米表面仪器部一直着眼于研发新的计量检测方法和工具,不断迎接挑战,致力于为客户解决各种技术难题,提供Z完善的解决方案。此外,还可根据工业生产中的操作模式和操作习惯,精简仪器功能,针对生产中的特定应用需求,为客户量身打造相匹配的仪器设备,简化生产过程的操作流程,提高工作效率。布鲁克的表面测量仪器广泛用于大学、研究所,工业领域的LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等,进行科学研究、产品开发、质量控制及失效分析,提供符合需求和预算的**解决方案。



畅销15年,作为世界上Z受欢迎,分辨率做高的原子力显微镜,已经成为AFM高分辨成像的标杆。现在Bruker推出全新升级版MultiMode 8原子力显微镜,添加更多功能和配件,是这套系统更趋于wan美。
全新ZL技术
ScanAsystTM ---自动优化全智能扫描模式:
世界上**个自动优化成像参数的AFM扫描模式,采用智能演算方法自动连续地监测图像质量,适时作出相应的参数调整。使用ScanAsyst模式,不必繁琐地调整setpoint、反馈增益、扫描速度等参数,只要选定所需扫描区域和扫描范围,即轻松获得高质量图像。
PeakForce QNM --峰值力定量机械性能测试模式:
BrukerZL的新型成像模式,可以对材料进行纳米尺度的力学性质定量检测表征,获得材料的粘附力和弹性模量图像,同时还能得到样品形貌的高分辨图像。使用 PeakForce QNM操作模式,可以延长探针的使用寿命,降低针尖更换频率,维持样品完整性和测量准确度,这些优势条件下,除了获得样品高分辨形貌图像,无需额外操作,即可获得样品的杨氏模量和粘附力图谱。




Dimension FastScan AFM - 世界上扫描速度Z快、分辨率Z高的原子力显微镜
在空气或液体中,Dimension FastScan的成像速度是原来AFM成像速度的100倍,自动激光调节和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间,无论在大气下或者溶液环境中,都有可能每秒钟获得1张高分辨的AFM图像。

客户服务热线:400-890-5666
邮箱:sales.asia@bruker-nano.com

参与评论

全部评论(0条)

获取验证码
我已经阅读并接受《仪器网服务协议》

推荐阅读

版权与免责声明

①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。

②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。

③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。

④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi

关于作者

作者简介:[详细]
最近更新:2024-10-17 14:17:41
关注 私信
更多

最新话题

最新资讯

作者榜