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       2017年5月24日，“TESCAN新产品及应用技术交流会”在沈阳 · 东北大学国际学术交流ZX隆重举行，有来自全国知名高校、科研院所以及著名企业的70余名领导和专家出席了此次交流会。在新产品及应用技术交流会上，TESCAN公司的技术专家们带来了关于TESCAN在扫描电镜（SEM）及聚焦离子束（FIB）等相关技术领域的创新技术及应用介绍。

       本次技术交流会由TESCAN与合作伙伴沈阳元杰光学技术有限公司联合举办，元杰光学是TESCAN公司在东北区域的合作伙伴。会议伊始，元杰光学总经理马晓冰先生做了会议致辞，对与会的专家老师们表示了强烈的欢迎，并表达了TESCAN与元杰光学将通力合作，致力于为电镜用户带来更好的应用解决方案和技术助力，为科研发展贡献力量。

TESCAN新产品及应用技术交流会现场   

       TESCAN发源于ZD的电镜制造基地-捷克Brno，有超过60年的电子显微镜制造历史，是电子显微镜和聚焦离子束领域的技术。此次技术交流会，TESCAN市场部经理顾群先生首先向大家简单介绍了TESCAN的发展历史以及其在显微领域的技术创新，并ZD介绍了TESCAN “ALL IN ONE”全面解决方案的理念以及国内SC的电镜-拉曼光谱联用系统（RISE）和双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS）。目前，TESCAN 联用技术已受到了市场很大的认可，联用系统在国内多家ZD研究单位安装并投入使用。

TESCAN市场部经理顾群先生精彩分享

       随后，TESCAN应用部专家李威老师为参会的专家学者们详细介绍了TESCAN的电镜-拉曼光谱联用技术在微观观测和分析领域带来的应用革新。传统的扫描电镜分析性能薄弱，SEM与拉曼光谱仪虽然都是强大的分析工具，但各自都具有一定的应用局限。而电镜-拉曼光谱联用系统（RISE）很好地解决了传统的应用难题，例如拉曼光谱对样品平整度的苛刻要求以及光镜观察形貌结构分辨率的不足和信息单一等难题，并在联用导航、探测器适配以及软件分析应用上都有革命性的提高和拓展，目前已在地质、碳材料、纳米科技、矿物晶体、聚合物、半导体以及生命医药、医学、检测鉴定等领域有了丰富的应用。TESCAN RISE系统还分别获得了“2014年分析科学家创新奖”和光谱仪器的ZG奖项“2015年棱镜奖”。

       此外，李威老师还介绍TESCAN双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用系统（TOF-SIMS），TESCAN是DY个将TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起，创新成为一体化系统。联用系统的创新打破了EDS及WDS的分析局限性，拥有更灵敏的检出限和更好的空间分辨率，在对轻元素的探测、同位素检测、深度剖析和化学结构解析应用中具有很大的优势。

TESCAN应用部专家李威老师在交流会上介绍新技术

       ZH，TESCAN技术专家焦汇胜博士介绍了TESCAN FIB-SEM及超高真空FIB-SEM Nanospace系统。由电子显微镜、聚焦离子束共同组成的一体化双束系统，简称FIB-SEM，是纳米尺度成像、测量和精密加工的工具，可以在纳米和微米级别的区域内对样品进行切割，可以完全实现样品的三维观测分析，而超高真空FIB-SEM Nanospace系统更是有其他系统无法比拟的表面分析功能。

TESCAN技术专家焦汇胜博士介绍FIB-SEM双束系统

       交流会结束后，参会的专家老师与TESCAN的应用技术专家也进行了热烈的沟通交流，相信TESCAN的联用技术和应用解决方案将会更好地帮助电镜分析研究工作者开展科研探索，也期待未来TESCAN的创新技术走进更多的科研应用领域。

TESCAN新产品及应用技术交流会大合影